Occasion HITACHI S-520 #293604268 à vendre en France

HITACHI S-520 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution d'une large gamme d'échantillons. Il est équipé d'un canon à haute résolution d'émission de champ (FEG) qui fournit un excellent rapport signal sur bruit, permettant une variété de modes d'imagerie. S-520 peut être utilisé pour observer de nombreux matériaux différents, y compris des métaux, des plastiques, des céramiques, des semi-conducteurs et des échantillons biologiques. HITACHI S-520 possède une fonction d'autofocus en attente de brevet qui fournit une résolution d'imagerie uniforme sur l'ensemble de l'échantillon, peu importe la zone scannée. Cela élimine la nécessité d'ajuster manuellement la mise au point, permettant une acquisition d'image rapide et fiable. Il est également livré avec une fonction d'optimisation de contraste automatique qui garantit une qualité d'imagerie optimale quel que soit le type d'échantillon. S-520 comprend un détecteur d'électrons secondaire optionnel, permettant l'imagerie de caractéristiques à faible contraste et l'analyse directionnelle de l'orientation des cristaux dans les matériaux cristallins. HITACHI S-520 fournit également plusieurs modes de détection d'électrons, y compris le champ lumineux, le champ sombre et l'imagerie électronique rétrodiffusée. En outre, S-520 dispose d'une gamme de détecteurs d'analyse réglables et d'accessoires pour l'imagerie chimique et l'analyse de composition. La conception durable de HITACHI S-520 lui permet de résister à des environnements industriels difficiles, et sa taille compacte permet une intégration facile dans les laboratoires existants. S-520 est conçu pour être convivial, avec une interface tactile qui dispose d'un menu d'opération intuitif et d'un logiciel d'analyse avancé. Cela permet aux utilisateurs d'acquérir rapidement et facilement des images de haute qualité et des données d'analyse. HITACHI S-520 est un excellent choix pour l'imagerie analytique et les applications en sciences des matériaux. La FEG haute résolution permet l'imagerie de structures ultra-fines, tandis que la gamme d'outils d'imagerie et d'analyse fournissent des capacités puissantes pour caractériser les échantillons. Cette combinaison de performance et d'abordabilité fait de S-520 un excellent choix pour les applications de recherche académique et industrielle.