Occasion HITACHI S-5200 #293653433 à vendre en France

HITACHI S-5200 Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil de recherche à haute résolution utilisé pour l'imagerie et l'analyse de spécimens au niveau du sous-micromètre. Il est populaire dans des domaines tels que la science des matériaux, la nanoscience et les sciences de la vie. HITACHI S 5200 Microscope électronique à balayage fonctionne en utilisant des électrons au lieu de la lumière pour continuer à examiner la topographie de surface et les structures microscopiques à des grandissements très élevés. Un faisceau d'électrons, généré par une source thermionique ou d'émission de champ, est ensuite balayé à travers la surface de l'échantillon dans un mouvement de balayage, appelé motif raster. En interaction avec la surface, les électrons sont diffusés, ce qui permet de détecter les signaux caractéristiques associés au matériau, tels que les électrons secondaires et les électrons rétrodiffusés. Le principal avantage de S-5200 est son système optique avancé qui a été optimisé pour fournir une imagerie précise haute résolution. Il est équipé d'une source d'électrons CFEG (Cold Field Emission Gun) ultra haute luminosité et d'un système de lentille avancé pour produire les images les plus claires avec une excellente qualité. Le faisceau d'électrons a une taille de tache réglable de 2nm assurant la clarté et la sensibilité de l'image, tandis que les performances rapides des déflecteurs minimisent les artefacts de mouvement du faisceau, augmentant ainsi la qualité de l'image. La fonctionnalité intégrée du S 5200, appelée MyTopography, garantit une mesure précise de la topographie et des points de rugosité de surface, même à résolution submicronique. Il offre également différents choix de micrographies simples à l'imagerie à double faisceau, en conjonction avec les techniques de microanalyse les plus avancées pour la caractérisation qualitative et quantitative des matériaux. De plus, HITACHI S-5200 possède un large éventail de capacités d'échantillonnage, y compris un porte-cryotomographie in situ et une chambre de prélèvement inclinée/rotation idéale pour étudier les structures tridimensionnelles. En outre, la technologie « Smart Beam » en option optimise la forme du faisceau et étend la capacité de minimisation de charge, faisant de HITACHI S 5200 un excellent choix pour les applications spectroscopiques. Dans l'ensemble, S-5200 Scanning Electron Microscope est un outil puissant pour analyser, étudier plus avant et image topographie de surface. Avec ses excellentes performances et sa capacité d'imagerie exceptionnelle, ce modèle offre aux chercheurs la résolution la plus fiable, ce qui le rend idéal pour la recherche dans de nombreux domaines scientifiques.