Occasion HITACHI S-5200 #293778227 à vendre en France

ID: 293778227
Scanning Electron Microscope (SEM) Electron source: Cold-FEG Acceleration voltage: 500 V to 30 kV Guaranteed resolution: 0.5 nm to 30 kV Magnification range: LM 60x to 10000x HM 800x to 2000000x (2) Detectors: SE T-BSE Stage: X: ±3.5 mm Y: ±2 mm Z: ±0.3 mm Tilt: ±40° Specimen: Flat: 5 x 9.5 x 3.5 x 4 x 9 x 4 mm Phase: 2 x 8 x 5 mm.
HITACHI S-5200 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui est utilisé pour fournir une imagerie haute résolution et l'analyse de la surface des objets solides. C'est un type de microscope électronique qui utilise un faisceau focalisé d'électrons pour produire une image de l'objet qu'il imagine et analyse. HITACHI S 5200 est un microscope électronique à balayage haute performance qui est équipé d'un design innovant qui permet un fonctionnement et une maintenance plus faciles. Le SEM fonctionne en utilisant une source d'électrons pour focaliser les électrons sur la surface de l'échantillon. Le faisceau d'électrons est balayé à travers la surface dans un motif de type raster, et les électrons qui interagissent avec l'échantillon sont détectés et enregistrés sous la forme d'une image. S-5200 dispose d'une très haute résolution jusqu'à 5 nanomètres, parfait pour examiner la surface des petites particules et analyser les détails fins des surfaces des échantillons. Le microscope peut être opéré soit en mode d'imagerie par électrons secondaires, soit en mode d'imagerie par électrons rétrodiffusés. Dans le mode d'imagerie à électrons secondaires, les électrons sont dispersés sous un angle peu profond après interaction avec l'échantillon et l'image est créée en détectant les électrons secondaires lors de leur impact sur le détecteur. Le mode d'imagerie par rétrodiffusion d'électrons forme une silhouette de l'échantillon en détectant les électrons qui sont diffusés loin de l'échantillon et de retour au détecteur. S 5200 offre également une variété de lentilles de sophistication et de détecteurs à l'utilisateur. Deux détecteurs différents sont disponibles dans le SEM ; le détecteur Everhart-Thornley et le détecteur in-lens. Le détecteur Everhart-Thornley est capable de détecter les électrons secondaires et rétrodiffusés de l'échantillon. Le détecteur dans la lentille est capable de détecter des électrons diffusés inélastiquement à partir de l'échantillon. HITACHI S-5200 dispose d'une chambre à vide pour créer l'environnement de micro-vide nécessaire au déploiement du faisceau d'électrons sans interférence. La chambre est conçue pour fonctionner à une pression minimale de 1x10-6 Pa, assurant que l'échantillon est protégé de toute contamination externe. La chambre est équipée de plusieurs ports qui sont utilisés pour évacuer tout gaz résiduel et permettre l'installation d'une variété d'accessoires au SEM. HITACHI S 5200 est un excellent instrument pour réaliser des images et analyses SEM détaillées et à haute résolution. Sa conception innovante et son système d'exploitation convivial le rendent bien adapté à une variété d'applications de recherche avancées.
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