Occasion HITACHI S-5200 #9235454 à vendre en France
URL copiée avec succès !
Appuyez sur pour zoomer
ID: 9235454
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Stage: Fully automatic
SE Detector
HITACHI FE Tip
(4) Barion ion pumps
NT340M Turbo pump
3 Axis motor stages (X, Y, Title) Z axis manual
Section holder
LCD Monitor
COMPAQ Deskpro EN
Trac ball joystick
Control panel
COMPAQ Keyboard
COMPAQ Mouse
Down transformer
No scroll pump
Specifications:
Resolution:
Accelerating voltage: 30 kV
Working distance: 4 mm - 0.6 nm
Accelerating voltage: 1 kV
Working distance: 1.5 mm - 2.5 nm
Magnification:
High magnification mode: 500x - 1000,000x
Low magnification mode: 30x - 2,000x
Electron optics:
Electron gun: Cold cathode field emission
Extracting voltage (Vext): 0 - 6.5 kV
Accelerating voltage (Vacc): 0.5 - 30 kV (in 100 V steps)
3-Stage electromagnetic lens, reduction type
Objective lens aperture: Movable aperture (4 Openings selectable / alignable outside column)
Self cleaning thin aperture
Astigmatism correction coil (Stigmator) type: Electromagnetic
Scanning coil type: 2-Stage electromagnetic deflection
Specimen stage:
S-5200 Motor stage
X Traverse: ± 3.5 mm
Y Traverse: ± 2 mm
Z Traverse: ± 0.3 mm
Tilt: ± 15°
Specimen size: 9.5 mm x 5 mm x 2.4 mmH (Diameter)
Display unit:
Photo CRT (Option): Ultra high resolution type (Effective field of view 120 × 90 mm)
Scanning modes: (Normal scan)
Reduced area scan
Line scan
Sport analysis
Average concentration analysis
Scanning speeds: TV (640x480 pixels display: 25 / 30 flames)
Fast (Full screen display: 25 / 30 flames/s)
Slow (Full screen display: 1/0.9, 4/3.3, 20/16, 40/32, 80/64 s/flame)
(640x480 pixels display: 0.5/0.4, 2/1.7, 10/8, 20/16, 40/32 s/flame)
Evacuation system:
Fully automatic pneumatic valve system
Ultimate vacuum level:
Specimen chamber: 7 x 10-4 Pa
Electron gun chamber:
IP-1: 1 x 10-7 Pa
IP-2: 2 x 10-6 Pa
IP-3: 7 x 10-5 Pa
Vacuum pumps:
Electron optical system: (3) Ion pumps
Specimen chamber: Turbo molecular pump
(2) Oil rotary pumps
(4) Compressors
Protection devices:
Power failure
Cooling water interruption
Inadequate vacuum
Operating system: Windows NT.
HITACHI S-5200 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui fournit un niveau élevé de qualité d'image. Il s'agit d'un SEM à pression variable, permettant aux utilisateurs de travailler à différentes quantités de pression à côté de la pièce. HITACHI S 5200 est équipé d'un canon à électrons qui produit un faisceau d'électrons, un étage de spécimen avec une plate-forme de balayage et un détecteur qui enregistre les premier à quatrième ordres d'électrons secondaires. En outre, S-5200 dispose d'un appareil d'enregistrement d'images numérique pour l'apprentissage classique et d'un système d'enregistrement d'images à haute résolution contrôlé par ordinateur. En outre, le microscope est capable d'opérations de capture et de traitement d'images. L'étage d'échantillon de S 5200 comporte deux colonnes qui supportent la plate-forme d'échantillon. Il dispose également d'une unité XY et d'une machine laser de surveillance de la dérive, qui gardent le champ de vision fixe. En outre, une gamme de lentilles objectives sont disponibles pour HITACHI S-5200, offrant une bonne clarté d'image et une bonne résolution dans la gamme de nanomètres. HITACHI S 5200 a une tension d'accélération électronique de 0.5kV à 200kV et une plage de courant de sonde de 0.1nA à 2µA, permettant une imagerie haute résolution. Il dispose également d'une gamme d'unités de détection, telles que des caméras CCD et SPAD, pour une capture d'image supérieure. En outre, S-5200 dispose d'un outil d'enregistrement numérique d'images haute résolution qui capture et stocke des images haute définition. De plus, la S 5200 est livrée avec une gamme d'accessoires et d'add-ons, tels que porte-échantillons, colonne ionique, systèmes d'analyse d'image, porte-étages et un actif d'entraînement d'étage micrométrique. Ces accessoires et add-ons peuvent être utilisés pour étendre les capacités du microscope et fournir une vue plus approfondie des échantillons. HITACHI S-5200 est un microscope puissant et polyvalent, qui convient à diverses applications de microscopie électronique à balayage, telles que l'analyse des défaillances des semi-conducteurs et la science des matériaux. Il offre une qualité d'image supérieure en haute résolution et est parfait pour un travail précis et détaillé.
Il n'y a pas encore de critiques