Occasion HITACHI S-5200 #9236135 à vendre en France

ID: 9236135
Style Vintage: 2003
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Resolution: 0.5nm (Accelerating voltage 30kV), Sample height: 0.5mm 1.8nm (Accelerating voltage 1kV), Sample height: 1.5mm Magnification: High magnification mode: ~800 x 2,000,000 Low magnification mode: ~60 x 10,000 Electric gun type: Cold cathode field emission electric gun Extraction voltage (Vext): 0 ~ 6.5kV Acceleration voltage: 0.5 ~ 30kV Lens: 3-Stage electromagnetic lens reduction system Objective lens aperture: Variable aperture Astigmatic correction: Electromagnetic method Scanning coil: 2-Stage electromagnetic deflection system Sample fine movement apparatus: X: +/- 3.5mm Y: +/- 2mm Z: +/- 0.3mm T: +/- 40° 2003 vintage.
HITACHI S-5200 Scanning Electron Microscope (SEM) est un puissant instrument d'imagerie pour l'imagerie de la surface des spécimens à l'échelle atomique ou nanométrique. Ce microscope combine l'imagerie haute résolution avec des taux d'acquisition rapides, ce qui le rend idéal pour un large éventail d'applications de recherche. Sa technique d'imagerie primaire utilise un faisceau d'électrons à balayage et recueille les électrons secondaires émis de l'échantillon pour former une image. Les électrons secondaires peuvent être collectés avec des tensions accélérées allant jusqu'à 30 kV, ce qui permet d'observer des caractéristiques de surface fine allant jusqu'à 10 nm. HITACHI S 5200 est capable d'imiter une gamme d'échantillons comprenant des échantillons biologiques et inorganiques dans des conditions sèches ou humides. L'équipement comprend également des capacités de détection d'éléments lumineux et d'imagerie ptychographique, ainsi que des capacités de fraisage de faisceau d'ions pour des échantillons en vrac. Il dispose d'un système de contrôle intuitif avec une interface utilisateur graphique. Des grossissements allant jusqu'à xx, xxx peuvent être réalisés et une résolution meilleure que 0.1nm. Des accessoires tels que des étages, des goniomètres et des cellules environnementales sont également disponibles pour aider à l'analyse des échantillons. L'unité dispose d'un détecteur intégré de spectroscopie de rayons X (EDS) dispersive d'énergie, qui permet l'analyse de la distribution des éléments dans l'échantillon. Les images recueillies par le détecteur EDS sont combinées avec une image électronique pour produire une carte de distribution élémentaire combinée. Cette capacité rend S-5200 bien adaptée aux applications d'imagerie dans des domaines tels que la science des matériaux et la nanotechnologie. S 5200 comprend également des capacités de sortie vidéo numérique intégrées pour visionner des images en direct ou capturées sur des écrans externes. Cette fonctionnalité est utile pour partager des images avec de grands groupes de personnes. Un logiciel est fourni pour permettre aux utilisateurs d'image et d'analyse des échantillons avec facilité. Il comprend des fonctionnalités telles que le traitement et les mesures en temps réel. En conclusion, HITACHI S-5200 Scanning Electron Microscope fournit des capacités d'imagerie inégalées à l'échelle du nanomètre. Il dispose d'une gamme de fonctionnalités qui le rendent utile pour un large éventail d'applications de recherche et est hautement automatisé et convivial. La combinaison des fonctions d'imagerie et d'analyse fait de cette machine l'un des instruments les plus puissants disponibles sur le marché aujourd'hui.
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