Occasion HITACHI S-5500 #293589666 à vendre en France

HITACHI S-5500 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour une variété d'applications en sciences des matériaux. Il dispose d'un détecteur d'électrons secondaires à grande vitesse, d'un détecteur à double rétrodiffusion et d'un nouvel équipement autofocus qui permet aux chercheurs de capturer des images à haute résolution. Le détecteur d'électrons secondaire à haute vitesse HITACHI S 5500 est capable de produire des images de balayage rapide à haute résolution de 1nm. Cela permet aux chercheurs de visualiser des détails fins dans leurs échantillons tels que les limites des grains, les facettes et d'autres caractéristiques de surface. Le détecteur d'électrons secondaire augmente la sensibilité du système jusqu'à 1000 fois par rapport aux détecteurs standard. S-5500 dispose également d'un double détecteur de rétrodiffusion capable de capturer simultanément les électrons secondaires et rétrodiffuseurs. Cela permet aux utilisateurs de générer des données de composition à partir de leurs échantillons et d'observer les propriétés physiques et chimiques de leur échantillon. Le détecteur de rétrodiffusion est équipé d'une unité de filtrage d'énergie qui permet d'obtenir des informations détaillées sur la composition élémentaire de l'échantillon. La S 5500 a également été équipée d'une nouvelle machine autofocus. Cet outil permet de maintenir la netteté et la clarté des images en corrigeant automatiquement les problèmes de focalisation qui se posent. Cet atout est particulièrement utile pour scanner des spécimens dont les surfaces sont inégales, comme les sols et les poudres. Enfin, HITACHI S-5500 dispose d'un mode d'observation amélioré. Cette nouvelle fonctionnalité comprend un modèle de stabilisation autoimage et un équipement de réduction du bruit. Ces technologies contribuent à améliorer la précision des images en réduisant le niveau de bruit et en optimisant la luminosité et le contraste des images. HITACHI S 5500 est un système polyvalent de microscopie électronique à balayage (SEM) qui convient à de nombreuses applications de la science des matériaux. Il dispose d'un détecteur d'électrons secondaire à grande vitesse, d'un détecteur à double rétrodiffusion, d'une nouvelle unité d'autofocus et d'un mode d'observation amélioré. Toutes ces caractéristiques se combinent pour faire de S-5500 un outil d'imagerie puissant qui peut fournir des informations détaillées sur les propriétés physiques et chimiques d'une variété de matériaux.