Occasion HITACHI S-5500 #9194484 à vendre en France

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ID: 9194484
Style Vintage: 2009
Scanning electron microscope (SEM) Secondary electron image resolution: 0.4 nm (30 kV, Sample height = 1.0 mm) 1.6 nm (1 kV, Sample height = 2.0 mm) Accelerating voltage: 0.5 - 30kV Magnification: LM Mode: 60 - 10000x HM Mode: 800 - 2000000x Electron optics: Electron gun: Cold cathode field emission electron source Lens system: 3-Stage electromagnetic lens reduction system Objective lens: Variable type Stigmator coil: Octopole electromagnetic system Scanning coil: HM Mode: 2-Stage electromagnetic deflection LM Mode: 1-Stage electromagnetic deflection Beam blanking: Electrostatic type: Synchronized with scanning coil Electromagnetic type: Image freezing Specimen stage: Stage: Side-entry goniometer stage Stage traverse: X: ±3.5 mm Y: ±2.0 mm Z: ±0.3 mm T: ±40° Sample Size: Bulk: 5.0 mm x 9.5 mm x 35 mmH (max) Cross-section: 2.0 mm x 6.0 mm x 5.0 mmH (max) Electrical image shift: ±5 ~m (Sample height=0 mm) Detectors (Options): Secondary electron detector Upper backscattered electron detector YAG Backscattered electron detector BFIDF Duo-STEM detector STEM Detector Faraday cup Energy dispersive X-ray detector Display system PC: Windows desktop PC OS: Microsoft windows XP Professional Monitor: 19 type LCD Image display mode: Full screen display: 1,280 x 960 pixels Reduced area display: 640 x 480 pixels Reduced area display: 320 x 240 pixels Dual image display: 640 x 480 pixels x 2 Evacuation system Auto evacuation: Fully automatic pneumatic valve Control system Ultimate vacuum: Electron gun chamber: <1 x 10^7 Pa Specimen chamber: <7 x 10^5 Pa Vacuum pumps: Ion pump: 70 l/s x 1 Ion pump: 30 l/s x 1 Turbo molecular pump: 260 l/s x 1 Scroll type dry pump: x 1 Utility requirements: Room temperature: 15 ~ 25°C Humidity: 60% RH or less Power: Single phase, ACIOO-240V ±10%, 4 kVA Grounding: 100 ohms or less Cooling water: Flow: 0.6 - 1.0 l/min Pressure: 50 - 100 kPa Temperature: 10 - 20°C Supply faucet: Rc 3/8 tapered female thread x 1 Drain port: 20 mm Diameter Natural drain located on floor 2009 vintage.
HITACHI S-5500 Scanning Electron Microscope est un SEM de pointe conçu pour l'imagerie et l'analyse à haute résolution. Ses fonctionnalités avancées en font une option idéale pour une large gamme d'imagerie et d'analyse, y compris les sciences de la vie, la science des matériaux et l'analyse environnementale. Le HITACHI S 5500 dispose d'un équipement de balayage hybride avec des détecteurs d'électrons secondaires et rétrodiffusés, ainsi que quatre ports d'entrée d'électrons. Il dispose également d'un système optique électronique de pointe avec une chambre à pression variable, permettant le fonctionnement du vide à des pressions d'air élevées. L'unité optique a été conçue pour minimiser les aberrations, ce qui a permis d'obtenir une résolution élevée de 5 nm en imagerie électronique secondaire et de 3 nm en imagerie rétrodiffusée. S-5500 est optimisé pour l'observation et l'analyse de l'imagerie biologique et haute résolution des matériaux mous. La chambre d'environnement du microscope est particulièrement utile pour l'observation de cultures cellulaires, permettant l'observation de matériaux délicats, dans une variété de modes de balayage, tels que l'imagerie à faible contraste, les indices de séchage et l'imagerie à pression variable. Le S 5500 comprend également une machine de décapage/dépôt d'ions embarquée, qui peut être utilisée pour la préparation et l'observation précises des échantillons. L'outil est capable de générer des résultats d'imagerie de haute précision, avec des détails pointus et fins, grâce à sa capacité à déposer des matériaux sur la surface de l'échantillon. La microscopie 3D immersive est également possible avec HITACHI S-5500 grâce à l'utilisation d'une fonction d'imagerie STED unique. Cela permet diverses techniques d'imagerie telles que l'imagerie à fluorescence monobloc, l'imagerie à l'échelle nanométrique et la tomographie tridimensionnelle. HITACHI S 5500 est également capable de produire des motifs de diffraction électronique à balayage de haute qualité, avec un détecteur EBSD intégré. Les motifs obtenus peuvent ensuite être utilisés pour résoudre des structures cristallines et prédire des propriétés telles que le module élastique, la dureté relative et la concentration de défauts. Par conséquent, S-5500 est un instrument idéal pour l'analyse des propriétés des nanostructures et des matériaux. S 5500 dispose également d'un atout d'imagerie grand champ, capable de produire des images claires et haute résolution avec un faible bruit. Cela en fait un choix idéal pour l'observation de grands spécimens où le détail est de la plus haute importance. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage HITACHI S-5500 élargit considérablement les capacités et les applications de la technologie du microscope, permettant l'analyse d'échantillons au niveau atomique. Sa combinaison unique de fonctions d'amélioration de la performance en fait un choix idéal pour de nombreux domaines de la science et de l'industrie.
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