Occasion HITACHI S-570 #134826 à vendre en France

HITACHI S-570 Scanning Electron Microscope (SEM) est une solution d'imagerie entièrement intégrée. HITACHI S 570 utilise une colonne électronique haute performance et un contrôleur numérique qui permettent une gamme de modes d'imagerie tels que les électrons secondaires haute résolution, les électrons rétrodiffusés, et la capacité de capturer une gamme de signaux ioniques. Ce SEM polyvalent est conçu pour une utilisation à la fois dans la recherche et les applications industrielles, et est capable de générer des images haute résolution de qualité sans compromis. S-570 est équipé d'un MSD ultra haute performance (Multi-Step Detector) qui fournit une résolution maximale de 2.0nm. Cette résolution supérieure permet de discerner les détails structurels et d'identifier les structures de surface. En outre, l'alimentation haute tension est capable de produire une gamme de niveaux de haute tension de 30kV à 30 MV, offrant un excellent contraste pour l'imagerie efficace. S 570 est également équipé d'un système d'automatisation à deux étages qui permet de régler simultanément la tension d'accélération, la taille des points et la luminosité. Cela permet une plus grande flexibilité dans l'examen des spécimens, avec des zones d'intérêt bien définies éclairées de manière idéale tout en maintenant la stabilité globale de l'image. Le système d'imagerie numérique intégré comprend des fonctions d'affichage LCD, d'analyse d'images et de traitement d'images. Des fonctionnalités telles que le zoom Auto Size et le stabilisateur Auto Frame offrent une facilité d'utilisation unique. En outre, un mode de capture d'images permet le transfert d'images vers une variété de destinations, y compris les lecteurs flash USB et les caméras numériques. HITACHI S-570 peut être associé à une gamme d'accessoires auxiliaires, y compris des porte-échantillons, des détecteurs EDS et des microanalyseurs, des détecteurs de rayons X, des détecteurs doubles pour le balayage SEM et l'analyse EDX. Cet instrument fournit également un système de détection de comptage d'impulsions qui permet de détecter simultanément différents signaux de rayons X. HITACHI S 570 est également livré avec une gamme de logiciels spécialisés qui permet aux utilisateurs de produire des analyses détaillées de leurs spécimens. Ces applications logicielles comprennent CADRA pour la conception et la production d'alignements et de profils 3D, et PartFinder pour l'identification de pièces assistées par ordinateur. Enfin, ce SEM supérieur est soutenu par un service après-vente et une solution de support qui fournit aux ingénieurs et aux techniciens une aide, des conseils et un soutien complets. En bref, S-570 est un microscope électronique à balayage avancé, entièrement intégré, doté d'une qualité d'image exceptionnelle, d'une automatisation à deux étages et de capacités d'imagerie numérique supérieures. Avec son détecteur MSD révolutionnaire, sa capacité de haute résolution et sa gamme d'accessoires auxiliaires, le S 570 offrira aux chercheurs et aux ingénieurs une excellente performance, flexibilité et fiabilité.