Occasion HITACHI S-570 #293592480 à vendre en France

ID: 293592480
Scanning Electron Microscope (SEM) Resolution: 2.5 nm Magnification: 20 to 100,000x, 12-100,000x Filament: Pre-centered LaB6 Maximum beam current: 300 µA Auto bias Alignment: 2-Stage electromagnetic alignment Lens: 3-Stage electromagnetic lenses Stigmator coil: Electromagnetic type Scanning coil: 2-Stage electromagnetic type Objective: Movable aperture Maximum specimen size: 150 mm Specimen stub size: 6 mm Ultra high resolution: 50 mm Specimen exchange: Air leak Motion range (Large stages): X: 0-40 mm, 0-100 mm Y: 0-40 mm, 0-50 mm Z: 5-35 mm, 20-60 mm Tilt: -20°-+90°, 0°-60° Rotation: 360° Power supply: 0.5-3 kV, 100 V / 3-30 kV, 1 kV.
Le microscope électronique à balayage HITACHI S-570 (SEM) offre des performances exceptionnelles et des fonctionnalités avancées pour soutenir de vastes applications de recherche en sciences des matériaux. La HITACHI S 570 offre la plus haute résolution disponible dans sa classe, fournissant une résolution de 1,2 nm à 30 mm de distance de travail, et une résolution jusqu'à 0,8 nm à 6 mm de distance de travail. Cette capacité permet l'imagerie d'atomes et de molécules individuels, et permet l'étude et la caractérisation de nouveaux matériaux et nanostructures. S-570 microscope électronique à balayage offre également une gamme variée de configurations de détecteurs. Il s'agit notamment de détecteurs d'électrons secondaires, de détecteurs d'électrons rétrodiffusés, ainsi que de divers systèmes de prélèvement d'échantillons, dont les détecteurs EDX, EBSD et SDD. Par conséquent, le S 570 est bien adapté aux applications multidisciplinaires, de l'imagerie et de l'analyse des nanomatériaux à la recherche en sciences de la vie. HITACHI S-570 bénéficie d'une conception avancée de colonne d'optique électronique. Cela inclut un contrôle avancé de la contamination, qui est essentiel pour atteindre les niveaux élevés de résolution d'imagerie. De plus, la conception mécanique de la colonne assure que le SEM reste dans une position parfaitement stable en fonctionnement, sans dérive ni vibrations, ce qui est essentiel pour des applications SEM nécessitant des niveaux de précision élevés. HITACHI S 570 est conçu pour être un instrument flexible et convivial. Ses caractéristiques comprennent des capacités d'analyse d'image, 4 configurations de canons à électrons et un contrôle de grossissement programmable, ce qui permet une productivité élevée dans les applications d'imagerie SEM de routine et avancées. Il comprend également une correction avancée de la dérive contrôlée par l'utilisateur. Ceci est important pour acquérir des images avec précision et rapidité, réduisant ainsi le temps nécessaire à un balayage. S-570 est entièrement compatible avec une gamme de systèmes d'automatisation et de commande de mouvement, permettant une configuration rapide et facile des tâches complexes d'imagerie SEM. En outre, une plate-forme ouverte permet une intégration facile avec une grande variété de systèmes d'imagerie et de logiciels d'automatisation, ce qui améliore la gamme d'applications d'imagerie disponibles. Enfin, la S 570 est conçue pour offrir des performances exceptionnelles à un prix compétitif. Cela fait de HITACHI S-570 un choix idéal pour toute application de science des matériaux nécessitant une imagerie et une analyse haute résolution.
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