Occasion HITACHI S-6000 #293652751 à vendre en France

HITACHI S-6000 Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil d'analyse haute performance conçu pour une gamme d'applications allant de l'analyse courante des matériaux au développement technologique de pointe. L'instrument est équipé de sources d'électrons à haute résolution basse tension, de sources d'émission de champ de pointe, de systèmes d'imagerie avancés et de logiciels puissants pour fournir une résolution et un contraste améliorés et une variété d'options analytiques. HITACHI S 6000 SEM propose des techniques analytiques innovantes telles que la spectrométrie XEDS, l'analyse de fluorescence aux rayons X (XRF) et l'imagerie électronique secondaire pour l'imagerie et l'analyse de surfaces et de matériaux non conducteurs et conducteurs. S-6000 offre des capacités d'imagerie sophistiquées et une large gamme de fonctions de mesure automatisées. Son imagerie haute résolution permet aux utilisateurs de détecter des caractéristiques fines et de mesurer l'information dimensionnelle avec une grande précision. L'instrument peut atteindre des résolutions jusqu'à 0,6nm afin que les images conservent un niveau de résolution élevé avec un contraste élevé. Les images peuvent également être agrandies jusqu'à 5 000 x, ce qui permet aux utilisateurs de visualiser et d'analyser de très petits objets. La suite logicielle intégrée comprend une gamme d'outils pour l'optimisation, la visualisation et l'analyse des images, permettant aux utilisateurs de caractériser rapidement les matériaux, localiser et mesurer les caractéristiques, et créer des rapports détaillés. S 6000 est équipé d'une variété de détecteurs, tels qu'un électron secondaire, un rétrodiffuseur et des détecteurs de rayons X, pour fournir des images avec une large gamme de grossissement, un contraste et une résolution supérieure. L'instrument peut être configuré pour recueillir divers types de spectres de rayons X, y compris des cartes élémentaires de rayons X, des scans de ligne et des spectres de rayons X. Combinant ces méthodes d'imagerie et d'analyse, les utilisateurs peuvent mesurer la composition et les propriétés des matériaux au niveau microscopique. Les logiciels avancés et l'automatisation de HITACHI S-6000 permettent aux utilisateurs d'analyser et de rapporter efficacement des échantillons de données. La suite logicielle comprend une gamme d'outils d'analyse conviviaux, y compris l'analyse des particules, les mesures automatisées du pas, l'analyse des grains et la mesure de l'épaisseur du film. L'instrument est équipé d'un dispositif de stockage de masse qui permet à plusieurs utilisateurs d'accéder, de stocker et de récupérer des données, permettant la recherche collaborative. Dans l'ensemble, HITACHI S 6000 est un SEM analytique haute performance, adapté à une variété d'applications de recherche et industrielles. Ses puissantes capacités d'imagerie et d'analyse, associées aux outils logiciels et à l'automatisation en font un outil idéal pour la caractérisation des matériaux. L'instrument offre une haute résolution, un contraste supérieur et une gamme de fonctions de mesure automatisées qui aident à analyser avec précision les échantillons et à générer des rapports détaillés rapidement et efficacement.