Occasion HITACHI S-6100 #9144954 à vendre en France

HITACHI S-6100 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour fournir des images haute résolution de l'intérieur des matériaux et des structures. Il utilise l'optique électronique, un faisceau d'électrons, un détecteur et un détecteur de rayons X pour créer ses visuels. En outre, il dispose d'un étage d'échantillonnage avec des commandes motorisées de X/Y/Z et d'inclinaison, permettant une manipulation et un réglage précis de l'échantillon pour une meilleure imagerie. Les principaux composants du HITACHI S 6100 comprennent le canon à électrons, les lentilles d'électrons, le détecteur d'électrons et le détecteur de rayons X. Le canon à électrons fournit des électrons qui sont accélérés et focalisés à travers les lentilles d'électrons, permettant de créer des images à différents grossissements. Le détecteur d'électrons permet à l'utilisateur de visualiser l'image sur un écran au fur et à mesure de sa génération et d'indiquer le grossissement utilisé. Le détecteur de rayons X fournit des spectres de rayons X de l'échantillon, permettant à l'utilisateur d'analyser le contenu élémentaire et la distribution avec plus de précision. S-6100 est capable de fournir une haute résolution, des images 3D de la morphologie, des caractéristiques de surface et des caractéristiques internes. Ses capacités d'imagerie sont encore améliorées avec ses modes d'imagerie électronique secondaire (SEI) et d'imagerie électronique rétrodiffusée (BEI). Avec SEI, l'utilisateur peut voir une vue de surface de l'échantillon et avec BEI, l'utilisateur peut voir la surface et les caractéristiques internes. S 6100 comporte également une étape automatisée qui peut être pré-programmée pour effectuer des routines simples telles qu'une zone scannée systématique, une imagerie stéréo, une imagerie inclinée ou une mosaïque, permettant l'imagerie de plus grandes zones d'échantillons avec une résolution plus fine. De plus, l'étage basculant permet une plus grande ajustabilité et manipulation de l'échantillon avec la capacité de basculer sous plusieurs angles et rotations. Enfin, HITACHI S-6100 possède une suite d'analyses avancées qui comprend la microanalyse des rayons X, la diffraction rétrodiffusée des électrons (EBSD) et la cartographie hyper-volume automatisée (AHVM). Cela permet à l'utilisateur d'analyser non seulement la topographie de surface, mais aussi la structure interne, la composition et l'orientation cristallographique de l'échantillon. HITACHI S 6100 est un SEM haute performance qui offre des capacités d'imagerie et d'analyse avancées. Sa conception sophistiquée permet une résolution accrue, une meilleure imagerie et des capacités analytiques améliorées, permettant une analyse plus détaillée des échantillons. Grâce à ses fonctions d'imagerie et d'analyse avancées, l'utilisateur pourra extraire des informations plus détaillées des matériaux solides pour mieux comprendre leur structure et leurs propriétés.