Occasion HITACHI S-6280H #293642210 à vendre en France

HITACHI S-6280H Scanning Electron Microscope (SEM) est un puissant outil d'imagerie qui peut être utilisé pour une variété d'applications d'imagerie. La haute performance, la polyvalence et la flexibilité de l'instrument le rendent idéal pour la recherche et les applications industrielles. Il dispose d'une plage de grossissement élevée, permettant l'imagerie de fonctionnalités jusqu'à des résolutions sous-nanométriques. Le microscope est équipé d'un grand spectromètre dispersif d'énergie multi-canaux pour la cartographie élémentaire des rayons X (EDS) et d'un détecteur d'électrons secondaire adapté à l'imagerie de domaines magnétiques sur des échantillons d'acier. La colonne et la chambre d'échantillonnage de HITACHI S-6280 H sont stables en température et isolées des fluctuations de température, permettant à l'instrument de rester à température constante, ce qui est crucial pour un fonctionnement stable et des résultats précis. La colonne a également une stabilité et une rigidité accrues qui se traduit par des images à plus haute résolution et de meilleures performances. Le vide ultra-haut a une vitesse de pompage de deux litres par seconde. Le courant colonne réglable vous permet d'ajuster l'instrument pour fournir une imagerie optimale avec des courants faibles (kV bas) ou des courants élevés (kV haut). Le porte-objectif de S-6280H SEM est équipé d'une large gamme d'objectifs, y compris 3x, 5x, 10x et 20x, avec un champ de vision maximum correspondant. La plage de grossissement de l'instrument est de 20x à 500.000x, et la distance de travail est de 5mm à 50mm. Le SEM dispose également d'un contrôle de courant d'ouverture qui peut être utilisé pour ajuster la taille du faisceau utilisé pour l'imagerie d'échantillons. L'instrument est conçu pour combiner les avantages d'un SEM et d'un microscope optique, permettant de visualiser des échantillons à partir d'un faisceau d'électrons et d'une source lumineuse. Il est équipé d'un porte-échantillons modulaire inclinable qui peut être utilisé pour visualiser des échantillons sous différents angles. Le porte-échantillon est également équipé d'une entrée de gaz intégrée, permettant une gravure contrôlée de l'échantillon lors de l'imagerie. Afin d'obtenir les meilleures images, S-6280 H SEM propose également des techniques d'imagerie innovantes, telles que la cartographie EDS, qui peuvent être utilisées pour créer des images précises de distributions élémentaires au sein d'échantillons. De plus, le microscope peut être utilisé pour la tomographie, ce qui crée des images 3D d'échantillons en résolution maximale. Dans l'ensemble, HITACHI S-6280H SEM est un instrument d'imagerie puissant et polyvalent qui combine les avantages du SEM et des microscopes optiques. Sa large gamme de grossissements, le courant de colonne réglable et les techniques d'imagerie avancées le rendent adapté à une variété d'applications de recherche et industrielles. L'instrument est robuste, précis et peut être utilisé pour créer des images haute résolution d'échantillons à l'échelle nanométrique.