Occasion HITACHI S-6600 #293652752 à vendre en France

HITACHI S-6600
ID: 293652752
Taille de la plaquette: 6"
Scanning Electron Microscopes (SEM), 6".
HITACHI S-6600 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour diverses applications d'analyse et d'imagerie. L'équipement offre une combinaison de la plus haute résolution et du champ de vision le plus large disponible. Il peut être utilisé pour un certain nombre de tâches, de la visualisation de matériaux dans leur état natif à la détection de topographie subtile de surface. Le dernier modèle HITACHI S 6600 comprend un choix entre un canon à émission de champ (FEG) ou un canon à émission de champ thermique (TFEG), selon l'application souhaitée. Cette gamme de pistolets offre à l'utilisateur un choix d'observations de haute résolution ou de large champ de vision. Toutes les armes sont entourées d'un boîtier anti-contamination chauffé qui empêche la contamination de l'environnement. L'étape d'échantillonnage sur S-6600 fournit une manipulation d'échantillon très précise et un large éventail d'options de préparation d'échantillon. Le choix de la gamme de porte-échantillons comprend un changeur d'échantillon et un système à trois axes pour les échantillons à plus grande surface. Les objets peuvent être déplacés jusqu'à 60mm dans les directions X, Y et Z. De plus, des fonctions d'inclinaison et de rotation des échantillons sont disponibles. S 6600 produit des images haute résolution grâce à sa puissante optique électronique haute luminosité. L'unité optique offre d'excellents rapports signal à bruit avec un faible bruit et une excellente correction de l'aberration. Il utilise la technologie de correction du front d'onde la plus avancée au monde pour obtenir une imagerie très précise. Les fonctions d'auto-correction et d'auto-focus à grande vitesse garantissent une qualité d'image supérieure sans perdre de temps sur le réglage fin. HITACHI S-6600 offre une large gamme de fonctions analytiques, y compris la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) et la spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS). Il est équipé d'un logiciel de contrôle des échantillons qui facilite les réglages optimaux pour des résultats optimaux. Le logiciel offre une variété de techniques pour analyser l'échantillon, y compris le profilage de profondeur, la cartographie élémentaire et l'analyse des particules. L'interface conviviale sur HITACHI S 6600 facilite la mise en place d'expériences et la mesure et l'analyse précises des échantillons. Le logiciel intuitif permet d'afficher les données dans différents formats, y compris les images vectorielles, les échelles de gris et les graphiques de couleur. Le logiciel prévoit également un traitement d'image post-acquisition permettant d'effectuer des mesures en toute confiance. La machine est également soutenue par des cours de formation complets, qui garantissent que chacun peut rapidement devenir compétent dans l'utilisation des capacités avancées de S-6600.
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