Occasion HITACHI S-7000 #293831503 à vendre en France

HITACHI S-7000 est un microscope électronique à balayage (SEM) réputé pour sa précision et sa technologie de pointe. Il est très apprécié pour sa grande sensibilité aux surfaces, son contraste élémentaire et sa résolution. S-7000 offre des performances supérieures dans les domaines des semi-conducteurs, de la recherche sur les matériaux et d'autres industries. Il est équipé d'un détecteur EDX qui permet la détection de divers éléments présents dans l'échantillon. Il est également capable de détecter et d'imiter des particules de matériaux étrangers jusqu'à 0,5 µm. Le microscope est conçu pour fonctionner dans une chambre à vide, ce qui lui permet d'utiliser une variété de lentilles et de technologies d'imagerie telles que la cathodoluminescence ultra haute résolution et les cartographies de sonde électronique. La pression de la chambre peut être facilement surveillée, assurant un niveau de précision constant. HITACHI S-7000 maximise l'efficacité et la polyvalence avec une variété de fonctionnalités. Son système d'alignement automatisé élimine l'alignement manuel, ce qui permet aux utilisateurs de gagner du temps et de l'argent. Il dispose également d'un mode d'imagerie SEM unique, qui permet de basculer entre les modes d'imagerie SEC et EDX en quelques secondes, une fonctionnalité qui est utile lors de la réalisation des cartographies élémentaires. En outre, son détecteur de trous permet de détecter et d'imiter de petits objets, tels que des cellules et des organismes, de manière encore plus détaillée. Le microscope dispose d'un grand étage de balayage double face, avec un contrôle de haute précision, permettant un balayage précis et rapide et des images de vue. Il fournit également des capacités de stockage de données. Dans l'ensemble, S-7000 est l'un des microscopes électroniques à balayage les plus avancés sur le marché aujourd'hui. Il offre la technologie la plus avancée actuellement disponible, permettant aux utilisateurs d'atteindre un maximum de performance et de précision. Il s'agit d'un outil essentiel pour ceux qui travaillent dans le domaine de la recherche sur les semi-conducteurs et les matériaux, leur permettant d'explorer le plus petit des objets, d'identifier des éléments et d'obtenir un aperçu précieux de leurs échantillons.