Occasion HITACHI S-7000 #76295 à vendre en France

ID: 76295
Taille de la plaquette: 4"-6"
Style Vintage: 1991
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 4"-6" Secondary electron image resolution: 15 nm, 1 kV (150 angstroms) Magnification: 100x to 100,000x CD Measurement range: 0.05-100 microns Electron beam source: Field emission electron gun Lens system: 2-Stage electromagnetic lens reduction Auto loader: Single cassette, random accessing Objective lens aperture: Movable aperture (4 openings selectable / Alignable outside column) Stigmator: 8 pole electromagnetic type (X,Y) Scanning coil: 2-Stage electromagnetic type Specimen stage movement: X-direction: 150 nm Y-direction: 150 nm Z-direction working distance: 5-15 mm T-tilt angle: 0° to 60° R-rotation angle: 360° Accelerating voltage: 0.7~3 kV Emission extracting voltage V1: 0~6.3 kV 1991 vintage.
HITACHI S-7000 Scanning Electron Microscope (SEM) est l'un des instruments scientifiques les plus avancés disponibles. S-7000 est un outil très précis utilisé pour étudier des échantillons dans divers environnements et fournir des images détaillées à l'échelle nanométrique (moins de 1 micromètres en résolution). Pour produire des images fiables, le SEM utilise un faisceau d'électrons et plusieurs composants pour la détection, la focalisation et l'imagerie. Une alimentation haute tension peut accélérer le faisceau d'électrons jusqu'à 30 KV, ce qui permet des analyses dans des plages de faible à haut grossissement. Une lentille du condenseur focalise alors le faisceau d'électrons sur l'échantillon, et un détecteur peut être utilisé pour détecter des électrons rétrodiffusés pour l'imagerie topographique. Le détecteur permet également une cartographie élémentaire en détectant des signaux provenant de spectromètres à rayons X. Pour une précision et une précision maximales, HITACHI S-7000 utilise un équipement entièrement informatisé avec des commandes logicielles et matérielles. Il est conçu pour produire des images précises dans un large éventail de conditions de fonctionnement et maintenir le plus haut niveau de clarté d'image. De plus, grâce aux systèmes de commande motorisés avancés du S-7000, le SEM est capable de fonctionner de façon cohérente sans réglage manuel nécessaire. HITACHI S-7000 dispose également d'un système intégré de « manipulation d'échantillons » qui permet de traduire, de faire tourner ou de manipuler des spécimens en toute sécurité et facilement à travers une unité automatisée. En d'autres termes, S-7000 élimine le besoin de manipulation manuelle des échantillons, ce qui réduit considérablement le risque de contamination ou d'endommagement des échantillons au cours du processus d'imagerie. En outre, HITACHI S-7000 est capable de produire un large éventail de variables dépendant du type d'échantillon et des paramètres opérationnels. Cela signifie que les capacités de ce SEM sont très adaptables et fiables dans différentes conditions. Dans l'ensemble, S-7000 est un outil précieux pour les analyses microstructurales et nanoscopiques d'échantillons. Avec sa large gamme de flexibilité opérationnelle, ses capacités d'imagerie exactes et sa machine automatisée de manipulation d'échantillons, HITACHI S-7000 est un outil d'imagerie exemplaire exceptionnel.
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