Occasion HITACHI S-7000 #9282901 à vendre en France
URL copiée avec succès !
Appuyez sur pour zoomer
ID: 9282901
Taille de la plaquette: 4"-6"
Style Vintage: 1989
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 4"-6"
Secondary electron image resolution: 15 nm (150 angstroms) at 1 kV
Magnification: 100x to 100,000x
CD Measurement Range: 15 Å (15 nm)
Re-producibility: ± 0.02 µm / ±1%
Electron beam source: Field emission electron gun
Accelerating voltage: 0.7-3 kV (100 V/Step)
Measurement range: 0.1- 200 µm
Auto-focus and auto-stigmation
Automated CD measurement
Multi point measurement capability
Programmable stage: Up to 60° Tilt
1989 vintage.
Le microscope électronique à balayage HITACHI S-7000 (SEM) est un outil d'imagerie polyvalent et puissant pour les scientifiques et les ingénieurs. Il a la capacité d'atteindre des résolutions de trois nanomètres et des grossissements jusqu'à 100 000 fois. S-7000 SEM offre une acquisition d'image à grande vitesse et une large gamme de capacités d'imagerie. HITACHI S-7000 produit des images en tirant parti des interactions entre les électrons et le matériau cible considéré. Les électrons incidents traversent une série de lentilles avant d'interagir avec l'échantillon. L'interaction crée une série d'électrons secondaires et d'électrons rétrodiffusés qui peuvent être utilisés pour créer une image de l'échantillon. Avec son système de balayage, S-7000 permet aux utilisateurs d'explorer de grandes surfaces, ou de regarder de près les détails fins. HITACHI S-7000 comprend des manipulateurs d'échantillons manuels et contrôlés par ordinateur. Cela permet aux utilisateurs de déplacer, tourner et incliner facilement l'échantillon dans le champ de vision du détecteur. Une sélection de lentilles permet aux utilisateurs de choisir les paramètres d'imagerie optimaux pour leur application. S-7000 SEM est équipé d'un système avancé d'analyse quantitative des images, permettant aux utilisateurs de mesurer plus précisément la taille et la forme des échantillons. Cette caractéristique rend HITACHI S-7000 particulièrement adapté aux études et mesures morphologiques. S-7000 SEM dispose également d'une série de détecteurs haute performance, permettant aux utilisateurs de capturer des images de rayons X, EDS, EELS, CL et ESB selon les besoins. Le SEM comprend un étage pour le montage d'échantillons ainsi qu'une chambre à vide in situ qui peut être facilement enlevé et remplacé. Dans l'ensemble, HITACHI S-7000 est un excellent choix pour tout projet de recherche ou cadre nécessitant un microscope électronique à balayage très fiable, précis et polyvalent. Avec son imagerie haute résolution, ses capacités d'imagerie avancées et son large éventail de fonctions d'analyse quantitative, S-7000 est un choix idéal pour les scientifiques et les ingénieurs de tout fond.
Il n'y a pas encore de critiques