Occasion HITACHI S-7800 #293773455 à vendre en France

ID: 293773455
Style Vintage: 1998
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) EDS 1998 vintage.
HITACHI S-7800 est un microscope électronique à balayage (SEM) doté de fonctionnalités avancées qui en font un outil idéal pour diverses applications, y compris l'analyse précise des échantillons, le contrôle de la qualité et le contrôle des processus industriels. L'équipement dispose d'un faisceau d'électrons à fort grossissement, faible divergence, acquisition de faible dose/haute résolution, un grand champ de vision, des temps de balayage rapides, et une capacité de couture intelligente. S-7800 présente un large éventail d'interactions d'échantillons pour permettre l'imagerie polyvalente et l'analyse d'échantillons, y compris l'imagerie électronique secondaire et rétrodiffusée, l'émission de rayons X et la fluorescence pour l'analyse chimique, et l'imagerie par courant induit par faisceau d'électrons (EBIC) ou l'imagerie électrique. Au cœur de HITACHI S-7800 se trouvent deux sous-systèmes étroitement couplés : la colonne électronique et l'unité de contrôle au microscope. La colonne d'électrons se compose d'un pistolet, d'un condenseur et de lentilles objectives, d'un étage et d'un porte-échantillons à trois axes, et d'un système de détection. Le canon utilise soit une pointe d'émission de champ, soit un filament thermionique LaB6 pour la conduction du faisceau d'électrons. Les lentilles du condenseur focalisent le faisceau sur l'échantillon et les lentilles objectives contrôlent la focalisation et la convergence du faisceau pour produire des images à haute résolution. L'étage et le porte-échantillon permettent une cartographie tridimensionnelle et l'unité de détection comprend un scintillateur, un tube photomultiplicateur et des dispositifs PMT pour permettre un large éventail de modes d'imagerie. L'unité de commande au microscope comprend une carte de commande optimisée et un câble à fibre optique, qui permettent une commande rapide et précise du faisceau d'électrons ainsi qu'une variété de modes d'acquisition. Le logiciel convivial de la machine permet un fonctionnement rapide et intuitif et offre des fonctionnalités telles que le piquage d'image externe, la correction de dérive et la correction d'image. En outre, l'outil offre la possibilité de stocker des images vers un dispositif de stockage externe et de transférer des images sur Internet pour la visualisation à distance. S-7800 est un microscope électronique à balayage haute performance conçu pour répondre aux exigences de l'analyse précise des échantillons et du contrôle industriel des processus. Son amplification élevée, son faisceau d'électrons à faible divergence et son acquisition à faible dose/haute résolution le rendent bien adapté à un large éventail d'applications, y compris la recherche, la science des matériaux, l'évaluation macrostructurale, le diagnostic et l'imagerie nanométrique. En combinant un fonctionnement efficace, des performances robustes et une interface conviviale, HITACHI S-7800 est un excellent choix pour l'imagerie économique et haute résolution.
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