Occasion HITACHI S-7800 #9109894 à vendre en France

HITACHI S-7800 est un microscope électronique à balayage (SEM). Il offre de superbes capacités d'imagerie et des performances analytiques extraordinaires. Le SEM est équipé d'un système automatisé de détection augmentée des images, permettant d'améliorer la répétabilité, l'imagerie haute résolution, la collecte et l'analyse des données. La tension d'accélération de S-7800 est variable et peut fonctionner jusqu'à 30kV ce qui permet d'examiner et d'analyser un large éventail de matériaux échantillons avec une qualité d'image et une résolution exceptionnelles. En outre, le travail de ce SEM est complété par une large gamme de détecteurs et de systèmes de détection, tels que la spectroscopie à rayons X dispersifs d'énergie (EDX), l'EBSD (diffraction de rétrodiffusion d'électrons) et l'EDS (spectroscopie dispersive d'énergie). HITACHI S-7800 offre une combinaison impressionnante de caractéristiques telles que la résolution d'image très précise, la stabilité de la tension et la résolution énergétique. Avec ses capacités d'imagerie à haut débit, même les structures d'échantillons les plus complexes peuvent être vues avec la plus grande clarté. La manipulation des échantillons et des données peut être facilement effectuée à l'aide de multiples options logicielles d'interface graphique d'ordinateur extensible. S-7800 dispose d'un système intégré de visualisation des échantillons, qui permet d'effectuer simultanément différentes étapes de l'examen des échantillons. Cela permet un flux de travail plus efficace et une durée d'exploitation prolongée. La chambre d'échantillonnage est haute température et contrôlée par l'environnement avec une pression maximale de 10-6 mbar lui permettant d'étudier une variété d'échantillons sous un vide bas. HITACHI S-7800 est également équipé d'une option de manipulation d'image, dans laquelle l'utilisateur peut ajuster la luminosité, le contraste, la couleur ou la taille des images prédéfinies. Le SEM est également capable d'effectuer des mesures précises sur des lieux d'intérêt 3D. Il mesure la largeur des lignes, la surface et le périmètre de diverses études transversales. En plus de la multitude de fonctionnalités, son logiciel convivial en fait l'un des SEM les plus avancés du marché. En conclusion, S-7800 permet la microanalyse de divers matériaux dont l'imagerie, la collecte de données et les performances analytiques sont supérieures.