Occasion HITACHI S-7800H #293641909 à vendre en France
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ID: 293641909
Taille de la plaquette: 2"
Style Vintage: 1997
Scanning Electron Microscope (SEM), 2"
Main unit
(2) Controllers
(3) Power supplies
1997 vintage.
HITACHI S-7800H est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution et la caractérisation d'une gamme de types de spécimens. Il dispose d'une colonne de détection d'inclinaison simple avancée et d'étages de balayage, offrant un large champ de vision et une excellente qualité d'image. La conception compacte et les caractéristiques ergonomiques du microscope le rendent adapté à l'utilisation en laboratoire et sur le terrain, tandis que la technologie d'imagerie de pointe et les logiciels le rendent idéal pour des applications telles que l'analyse des défaillances, la recherche sur les matériaux et l'imagerie métallurgique. La colonne de détection d'inclinaison unique de HITACHI S-7800 H est équipée de quatre détecteurs de dispersion d'énergie différents : un détecteur d'imagerie pour électrons secondaires (SE), un détecteur d'électrons rétrodiffusés pour électrons rétrodiffusés (BSE), un détecteur de plus grande surface pour l'imagerie de diffraction du deuxième et du troisième ordre (DD) et un spectromètre à très haut comptage pour l'analyse Eds. Le détecteur d'imagerie a une résolution maximale de 1,25 nm et un champ de vision pouvant atteindre 5,0 mm. Le détecteur d'électrons rétrodiffusé a une résolution de 1,0 nm et un champ de vision pouvant atteindre 10 mm. Le détecteur à plus grande surface a une résolution de 2,5 nm et un champ de vision pouvant atteindre 6,7 mm, avec un taux de comptage EDS maximal de 460 000 cps. Les étages de balayage S-7800H ont une vitesse maximale de 180 cm/s dans les directions X et Y, avec une portée maximale de 40 mm dans les coordonnées X et Y. Les étages sont équipés de points de connexion pour les signaux DA (réseau différentiel) et les freins du moteur, ce qui les rend aptes à un fonctionnement automatisé. Les capacités d'imagerie numérique intégrées au microscope comprennent la rotation de l'échantillon jusqu'à 360 ° et le positionnement en coordonnées X, Y et θ. Les presets utilisateurs peuvent être stockés pour les paramètres pertinents et le logiciel d'analyse offre une gamme de fonctions d'analyse de données et de fonctionnalités avancées. S-7800 H est un système d'imagerie puissant et riche en données, conçu pour répondre aux besoins de la recherche moderne sur les matériaux, l'analyse des défaillances et la métallurgie. Ses fonctionnalités sophistiquées et sa technologie permettent aux utilisateurs d'imaginer, d'analyser et de mener des expériences avec un haut niveau de précision, de résolution et de détail.
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