Occasion HITACHI S-7800H #9373119 à vendre en France

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ID: 9373119
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) Open cassette handler, 8" Wafer and cross section carrier plates Turbo pumps Controllers.
Le microscope électronique à balayage HITACHI S-7800H (SEM) est un puissant instrument d'analyse qui permet aux scientifiques et aux ingénieurs de visualiser, d'analyser et de mesurer les particules à l'échelle nanométrique. L'instrument utilise des électrons au lieu de la lumière pour agrandir et former des images de particules, offrant un niveau de résolution qui dépasse la microscopie lumineuse. HITACHI S-7800 H contient un certain nombre de caractéristiques pour garantir des résultats précis lors de l'étude des nanomatériaux. Il a un système de filtre d'énergie qui filtre les électrons en fonction de leur niveau d'énergie pour créer une image détaillée avec un fort contraste. Le canon à électrons fournit une haute tension d'accélération (jusqu'à 30 kV) pour analyser efficacement les nanomatériaux et les très petits échantillons. Le détecteur d'électrons secondaire en colonne permet l'analyse d'échantillons conducteurs et non conducteurs. S-7800H fournit également un large éventail de modes d'imagerie, y compris l'imagerie électronique rétrodiffusée, l'imagerie électronique secondaire, l'analyse élémentaire par EDX et WDX, et l'analyse des défauts cristallins. L'imagerie électronique rétrodiffusée est utile pour étudier la composition et la topographie de surface d'un échantillon, tandis que l'imagerie électronique secondaire permet à l'utilisateur de visualiser l'échantillon sous un angle différent. Les détecteurs EDX et WDX permettent une analyse élémentaire rapide de l'échantillon. S-7800 H est également équipé de la technologie de changement d'échantillon robotique pour l'analyse rapide de plusieurs échantillons. Le changeur automatisé peut traiter jusqu'à 12 échantillons à la fois, et permet une transition rapide et transparente entre les échantillons. En outre, l'instrument peut être contrôlé et surveillé à distance à l'aide du système Wi-Fi. HITACHI S-7800H SEM est un outil fiable et convivial qui combine des résultats analytiques puissants avec un logiciel de contrôle intuitif. Sa résolution inégalée et ses capacités d'imagerie permettent une analyse complète des nanomatériaux. L'instrument est le choix idéal pour les scientifiques et les ingénieurs qui cherchent à obtenir des informations sur le nano-monde.
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