Occasion HITACHI S-7840 #293643102 à vendre en France

HITACHI S-7840 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) spécialement conçu pour la caractérisation des matériaux avancés. Cet instrument est configuré avec une nouvelle colonne optique électronique, avec un canon d'émission de champ thermionique haute pression de 30 kV pour une résolution accrue et des observations de bruit faible. Il dispose de capacités d'observation d'échantillons de haute performance en raison de son objectif grand angle gravé et des capacités d'imagerie de contraste plus élevées. HITACHI S 7840 comprend une chambre en verre, une étape de balayage automatisé des échantillons et un bouclier EM environnemental qui fournissent un vide ultra-haut propre (UHV) avec une pression de base de 5 x 10-7 Pa. Le système à vide élevé intégral empêche également la poussière, les particules atomiques et d'autres contaminations d'entrer dans l'instrument, ce qui permet d'analyser la surface de l'échantillon avec une plus grande résolution et une plus grande précision. La caméra CCD intégrée et le processeur de données d'image permettent la génération d'images numériques haute résolution. Un réseau de cinq détecteurs au maximum peut être utilisé avec le SEM pour obtenir des données de l'échantillon. Ces détecteurs comprennent des électrons secondaires (SE), des électrons rétrodiffusés (ESB) et des détecteurs de rayons X fluorescents. La figure S-7840 présente également un détecteur d'images d'électrons secondaires doubles indépendant sans contact pour obtenir des images sans être perturbé par le faisceau d'électrons primaires. L'instrument contient une variété de fonctionnalités avancées pour maximiser la résolution et la précision. Par exemple, le porte-échantillon comporte une étape en colonne pour le balayage horizontal de tous les types d'échantillons. La scène est inclinée, rotative et réglable afin que les spécimens de toutes les formes, tailles et matériaux puissent être scannés à partir de n'importe quelle orientation. Le canon à électrons a une capacité de focalisation par points de 0,5 nm, et l'ensemble détecteur a une résolution unitaire RMS de 2,5 nm. S 7840 dispose également d'une large gamme d'accessoires et de logiciels optionnels, tels qu'une machine de balayage automatique et un outil de microanalyse, pour maximiser ses capacités déjà puissantes. Tous ces composants se réunissent pour faire de HITACHI S-7840 un SEM haute performance capable de fournir des résultats d'imagerie et d'analyse supérieurs pour tous les types de recherche sur les matériaux.