Occasion HITACHI S-7840 #293800274 à vendre en France

ID: 293800274
Style Vintage: 2005
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) 2005 vintage.
HITACHI S-7840 est un microscope électronique à balayage (SEM) créé par HITACHI High Technologies. Idéal pour la recherche et le développement, ce SEM est capable de fournir des niveaux de performance et de précision extrêmement élevés. HITACHI S 7840 dispose de nombreuses technologies de pointe pour produire des résultats d'imagerie et de mesure à haute résolution. Le SEM dispose d'une source d'électrons à émission de champ corrigée de l'aberration (FES) qui permet des énergies de faisceau hautement contrôlées et focalisées et l'éclairage. Cela donne S-7840 une plus grande stabilité du faisceau et des niveaux de contraste et de résolution plus élevés. En outre, le niveau élevé de stabilité du faisceau permet un balayage plus rapide et une imagerie de meilleure qualité. S 7840 est également équipé d'un grand écran haute résolution pour l'affichage des images acquises. L'affichage est situé devant l'instrument, ce qui permet aux utilisateurs d'accéder à la manipulation d'image et à la comparaison directe. L'écran dispose d'un contrôle intuitif et intuitif de l'utilisateur, offrant aux utilisateurs plus de flexibilité dans leur travail. HITACHI S-7840 dispose également d'un système d'analyse d'image numérique qui permet une analyse d'image sophistiquée. Ce système fournit aux utilisateurs de puissantes capacités d'analyse de données grâce à l'analyse géométrique, de contraste et de gradient. En plus de ses technologies d'imagerie avancées, HITACHI S 7840 dispose également d'un étage d'échantillonnage automatisé. Cette étape permet un positionnement et une mesure automatisés des échantillons. L'étape d'échantillonnage permet également de remplacer rapidement l'échantillon, ce qui permet des mesures précises et répétables. S-7840 est également compatible avec une large gamme de porte-échantillons et d'accessoires. Cela comprend des supports pour des spécimens jusqu'à 400 mm de taille, divers spécimens de forme et des spécimens dans un large éventail de matériaux. S 7840 dispose également d'une chambre préparatoire avec une pompe à vide intégrée pour contrôler les conditions de la chambre. Ceci est particulièrement utile pour le revêtement d'échantillons délicats par une couche mince et non conductrice. Dans l'ensemble, HITACHI S-7840 est un outil avancé et emballé pour l'imagerie et la mesure d'un large éventail d'échantillons matériels à l'échelle nano. Ses technologies d'imagerie avancées et son étape d'échantillonnage automatisé en font l'outil parfait pour la recherche et le développement.
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