Occasion HITACHI S-7840 #293815241 à vendre en France

HITACHI S-7840
ID: 293815241
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD‑SEM).
HITACHI S-7840 est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe conçu pour des inspections et des analyses avancées d'un large éventail de matériaux et d'échantillons. Cet outil avancé offre la résolution la plus élevée avec un grossissement allant jusqu'à 500 000 x et fournit la plus grande clarté avec une capacité inégalée de résoudre les détails. HITACHI S 7840 dispose d'un détecteur de pression variable, d'un choix de deux systèmes de canon électronique et d'une configuration de détecteur double qui fournissent un niveau complet de capacités d'analyse et d'imagerie. S-7840 utilise la technologie à pression variable pour réduire la charge des échantillons non conducteurs et les capacités d'observation, de mesure et d'inspection automatisées dans les modes à ultra-haut vide (UHV) et autres modes à vide. Le détecteur de pression variable élimine la génération de contamination pour les grands échantillons non conducteurs et augmente l'utilité du système pour diverses applications. Les deux systèmes de canon électronique, le canon à émission de champ (FEG) et le canon thermionique (TEG), offrent une résolution et une sensibilité élevées. S 7840 offre également des capacités automatisées d'analyse d'orientation et de reconnaissance de forme avec sa suite de logiciels spécialisés. Les échantillons sont automatiquement alignés, et le logiciel peut automatiquement détecter, mesurer et signaler la forme des particules et des microstructures dans une gamme de matériaux. Cette fonctionnalité avancée permet aux utilisateurs d'obtenir des mesures dimensionnelles très précises, et d'obtenir rapidement diverses caractéristiques de l'échantillon avec une automatisation avancée. HITACHI S-7840 offre également une grande précision avec son système d'acquisition automatisée d'images (AIAS). Cette fonctionnalité facultative permet aux utilisateurs d'acquérir automatiquement des images avec un minimum de temps et d'effort. L'AIAS offre des capacités de reconnaissance de motifs, qui lui permettent d'ajuster automatiquement le champ de vision à l'échantillon et d'acquérir une image pour une plus grande efficacité. En outre, HITACHI S 7840 fournit également un environnement d'imagerie optimal avec ses fonctionnalités avancées telles que le balayage avancé et les fonctions autofocus, le contrôle automatisé du propulseur et le mouvement sans vibrations. Ces fonctionnalités aident les utilisateurs à maximiser leur capacité d'imagerie et à améliorer la précision et la qualité de leurs résultats. Dans l'ensemble, S-7840 est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent qui offre des niveaux élevés de résolution et de clarté pour l'imagerie, l'analyse et l'inspection détaillées à petite échelle. Il offre les dernières capacités d'analyse et de manipulation automatisée des échantillons, permettant aux chercheurs et aux ingénieurs de découvrir des informations détaillées sur les microstructures d'un large éventail de matériaux.
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