Occasion HITACHI S-7840 #9225865 à vendre en France

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ID: 9225865
Style Vintage: 2001
Scanning electron microscope (SEM) Port, 6" (6) Holders A IP1 Vacuum: <0.5 x 10^-7Pa Canceller: MK3 Vibration table HV Cont: 15 kV Options: Multi point measurement Edge roughness Hole measurement Reduced scan Image database Auto vid Save to DOS FD IP Read Operator accessories Corner measurement Power: 100V, 50Hz 2001 vintage.
HITACHI S-7840 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour des capacités d'imagerie avancées. Ses capacités analytiques supérieures le rendent idéal pour des applications de recherche dans une grande variété de domaines. Il est doté d'un spectromètre à rayons X à dispersion d'énergie très sensible (EDS) et d'un système d'imagerie à haute résolution par électrons secondaires. HITACHI S 7840 a une tension d'accélération maximale de 30kV et est équipé d'un système d'imagerie à résolution de 0,5 nm. Il est capable de scanner des échantillons jusqu'à 50 mm de diamètre et dispose d'un étage d'échantillonnage intégré pour une manipulation précise des échantillons. S-7840 présente une sensibilité élevée aux faibles tensions d'accélération, ainsi qu'une faible densité de courant du faisceau d'électrons pour des opérations d'imagerie délicates. Le système d'imagerie de S 7840 utilise un détecteur d'électrons secondaire et un détecteur d'électrons rétrodiffusés, associés à un détecteur de champ lumineux, pour des images de contraste élevé. HITACHI S-7840 dispose également d'un diffracteur à rétrodiffusion d'électrons (EBSD) et d'un spectromètre à rayons X dispersif d'énergie (EDS) pour améliorer les capacités d'analyse. HITACHI S 7840 est facilement programmable pour l'acquisition automatisée d'images et peut également être commandé à partir d'un PC distant en utilisant le logiciel d'imagerie spécial dont le modèle est équipé. Il est également capable d'acquérir des images 3D à l'aide de sa fonction spéciale 3D ainsi que d'aligner son étage avec un échantillon externe, à l'aide de sa fonction d'alignement automatique. En termes de capacités en termes de résolution et de vitesse, S-7840 est exceptionnellement rapide et précis, et est capable de détecter des caractéristiques de résolution de sous-microns dans les échantillons. Ses performances analytiques, ses vitesses d'imagerie rapides et son application polyvalente le rendent adapté à de nombreuses applications de recherche dans les domaines de la biologie moléculaire, de la science des matériaux et de la nanotechnologie. De plus, son fonctionnement automatisé et sa facilité d'intégration avec d'autres systèmes en font une solution d'imagerie très efficace et flexible. En conclusion, le S 7840 est un microscope électronique à balayage supérieur conçu pour des capacités d'imagerie et d'analyse avancées. Sa sensibilité, sa résolution et sa rapidité supérieures en font un choix idéal pour la recherche et les applications industrielles. Ses fonctionnalités polyvalentes et sa programmabilité facile en font une solution d'imagerie très efficace et fiable.
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