Occasion HITACHI S-800 #9387938 à vendre en France

HITACHI S-800 Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument polyvalent et performant utilisé pour une gamme de techniques d'analyse et d'imagerie en nanotechnologie. HITACHI S800 est un outil polyvalent pour la recherche universitaire et industrielle, capable d'acquérir une variété de micrographes électroniques à des grossissements allant jusqu'à six millions de fois. Le microscope électronique à balayage fonctionne en focalisant un faisceau d'électrons de haute énergie sur l'échantillon et comporte deux composantes primaires : une source d'électrons et un système de commande. La source d'électrons est un canon à émission de champ thermique, qui permet la génération d'un faisceau d'électrons d'une énergie et d'un diamètre donnés. Le système optique comprend une série de lentilles pour focaliser et défocaliser le faisceau, fixant l'énergie et le diamètre du faisceau à des valeurs optimales. L'étape de l'échantillon peut tenir et déplacer l'échantillon dans trois directions - les axes x, y et z. Cela permet au faisceau de se déplacer le long de la surface de l'échantillon dans un motif circulaire ou raster, et peut être réglé à des vitesses variables. Des fonctions de contrôle sont disponibles pour définir la zone d'intérêt avant le balayage, ainsi que pour définir la vitesse de rotation de l'échantillon, la vitesse de balayage et les paramètres d'énergie du faisceau. Les capacités d'imagerie haute performance et de collecte numérique de S-800 conviennent à un large éventail de techniques, y compris les mesures de résolution, l'analyse élémentaire, l'amélioration de l'image, la diffraction par rétrodiffusion électronique et le balayage inclinaison/décalage. Le balayage sous vide est disponible, ainsi que la chambre d'imagerie sous vide pour des mesures à haute résolution. Pour l'analyse élémentaire, S800 est équipé d'une gamme de détecteurs, y compris des spectromètres à rayons X dispersifs d'énergie (EDS). Les détecteurs EDS permettent à l'utilisateur d'identifier les éléments majeurs et mineurs dans les échantillons, ainsi que de fournir des informations sur la composition atomique des échantillons. Ils fournissent également des cartes élémentaires qui peuvent être utilisées pour analyser avec précision différentes régions de l'échantillon. HITACHI S-800 SEM est conçu pour faciliter l'utilisation et la productivité. Sa conception ergonomique, son logiciel intuitif et ses options complètes conviennent à la recherche à tous les niveaux. HITACHI S800 est livré avec des porte-échantillons pour les spécimens conventionnels, ainsi qu'une étape d'inclinaison et de décalage pour les expériences de balayage en angle ou multi-axes. Il dispose de capacités de télécommande et d'une gamme de logiciels et d'outils d'acquisition d'images pour l'analyse et l'évaluation des données.