Occasion HITACHI S-806 #293634215 à vendre en France

HITACHI S-806 Scanning Electron Microscope (SEM) est un SEM multi-modes, haute performance, capable de visualiser des échantillons à des grossissements élevés avec une résolution au niveau du nanomètre. HITACHI S806 est capable de produire des électrons secondaires, des électrons rétrodiffusés et des images d'électrons d'Auger, ainsi que des spectres de rayons X, des cartes d'états chimiques et d'autres données de caractérisation élémentaire. Le S 806 est doté d'une source de canon à émission de champ (FEG), offrant une excellente stabilité du faisceau et minimisant les changements dus aux conditions du gaz, permettant une plus grande précision et des résultats de mesure. La source FEG a une tension d'accélération variable de 0,5 jusqu'à 30 kV, avec une plage de fonctionnement de 1-25 kV. Pour maximiser les capacités de visualisation et d'imagerie des échantillons, HITACHI S 806 est équipé de diverses commandes pour ajuster la taille, la résolution, le grossissement et le contraste. La chambre d'échantillonnage SEM est assez grande pour les échantillons jusqu'à 100 x 100 mm, et une chambre d'environnement est disponible pour contrôler l'atmosphère et la pression. S806 utilise également un détecteur d'imagerie SEM 12 bits, d'une taille de pixel de 5 x 5 microns, pour produire des images avec des niveaux de détail élevés. Pour garantir des résultats précis, S-806 est capable d'intégrer une variété de détecteurs au système SEM. Ces détecteurs comprennent des spectromètres de puissance, des détecteurs pour l'analyse composite des composites et l'analyse semiquantitative, ainsi que des détecteurs optiques pour déterminer la hauteur des échantillons. HITACHI S-806 peut être utilisé en combinaison avec un stéréoscope classique pour capturer des images 3D. Il prend également en charge une variété d'options d'étapes automatisées pour simplifier le chargement, le positionnement et la mesure des échantillons. Dans l'ensemble, les caractéristiques avancées du microscope électronique à balayage HITACHI S806 en font un choix idéal pour l'imagerie et la caractérisation à l'échelle nanométrique. Ses capacités polyvalentes et précises, sa source FEG, son support automatisé et ses différents systèmes de détection permettent d'obtenir des résultats précis dans un large éventail d'applications scientifiques.