Occasion HITACHI S-8820 #293618031 à vendre en France

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ID: 293618031
Taille de la plaquette: 6"
Style Vintage: 1995
Scanning Electron Microscope (SEM), 6" SECS Electron gun: Schottky tip Workstation: B180 Stage: 6"-8" No pumps Accelerating: 800 V Probe current: 6 PA 1995 vintage.
HITACHI S-8820 scanning electronmicroscope (SEM) est un instrument d'analyse utilisé pour fournir des informations sur la morphologie, la composition et les caractéristiques topographiques d'un large éventail de matériaux échantillons. Il utilise un faisceau d'électrons à balayage pour balayer une surface d'échantillon, puis mesure et stocke le signal détecté à partir de l'électronique diffusée à partir de l'échantillon. Le SEM permet également à l'utilisateur d'acquérir une analyse élémentaire de composition à partir de zones sélectionnées de l'échantillon. HITACHI S 8820 utilise un système de vide amélioré pour assurer des performances stables avec une large gamme d'échantillons jusqu'à une pression de vide de 1,0 × 10 ^ -4 Torr. Ce modèle dispose d'une pompe turbo moléculaire à trois étages et d'une pompe d'appoint rotative à aubes, en combinaison avec des pompes à diffusion humide et sèche, pour assurer un fonctionnement optimal sous vide élevé. Un moniteur à panneau plat et un écran tactile offrent une vue claire des fonctions de données et de contrôle de l'instrument. Le SEM dispose d'un détecteur électronique secondaire avancé pour l'imagerie et la collecte d'images à haute résolution pour mesurer la microstructure, les caractéristiques topographiques et la composition élémentaire dans l'échantillon. Le puissant détecteur Everhart-Thornley fournit une image à faible bruit, plus haute résolution avec une grande profondeur de champ. Un filtre d'énergie embarqué permet à l'utilisateur de sélectionner une bande d'énergie dans laquelle le signal électronique est recueilli à partir de l'échantillon. Le détecteur grand format dispose également d'une unité de couchage spéciale pour le revêtement sûr et répétable des échantillons. S-8820 dispose également d'une chambre d'analyse facultative pour les échantillons microscopiques, permettant son utilisation pour des analyses in situ telles que EDX, EBSD et WDS. Les capacités d'analyse in situ permettent à l'utilisateur de réaliser l'observation et l'analyse en temps réel de l'échantillon sans interruption de l'environnement sous vide. L'étage polyvalent de S 8820 permet à l'utilisateur de faire XY, XYZ scan et de fournir l'inclinaison et la rotation, ainsi que le contrôle multiple. L'étape incrémentale précise est disponible avec la plage de réglage intégrée, la précision du mouvement du moteur et la vitesse. Dans l'ensemble, HITACHI S-8820 est un microscope électronique à balayage puissant, polyvalent et fiable capable de fournir un niveau élevé de détail d'échantillon et une analyse élémentaire précise de la composition. Son détecteur d'électrons secondaire avancé, son filtre d'énergie et sa chambre d'analyse optionnelle permettent aux utilisateurs d'observer et d'analyser rapidement et efficacement un large éventail d'échantillons.
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