Occasion HITACHI S-8820 #293621554 à vendre en France

HITACHI S-8820 Scanning Electron Microscope est un SEM conçu pour un large éventail d'applications, de l'analyse de la composition élémentaire des spécimens organiques ou inorganiques aux analyses 3D et à l'imagerie en temps réel des événements dynamiques. L'optique haute performance de l'appareil, le détecteur secondaire d'électrons et le détecteur de rayons X garantissent une excellente précision d'imagerie. Le microscope électronique à balayage HITACHI S 8820 est équipé de plusieurs modes d'acquisition et de capacités analytiques avancées, comme l'imagerie électronique secondaire, l'imagerie électronique rétrodiffusée, l'EDS (spectroscopie de rayons X dispersive d'énergie) et l'EBSD (diffraction rétrodiffusée d'électrons). L'optique haute performance d'agrandissement du système garantit la clarté et la netteté de l'imagerie, tandis que la petite taille des caractéristiques plus facile à observer dans le SEM. Le microscope électronique à balayage permet également d'observer les événements dynamiques et d'analyser les caractéristiques tridimensionnelles en utilisant la cartographie EDX (energy dispersive X-ray). L'unité de suivi des fonctionnalités permet l'étude des événements dynamiques en temps réel. La machine EBSD permet de déterminer la structure des grains, la texture et l'orientation des cristaux. L'outil à faible vide permet l'imagerie d'échantillons non conducteurs, tandis que les systèmes d'environnement et de revêtement permettent l'étude des effets environnementaux, caractérisant les réactions d'interface et l'ajout et le retrait de couches minces. L'actif optionnel d'imagerie in-lens minimise la rétrodiffusion et améliore la performance globale du SEM. De plus, S-8820 le Balayage du Microscope Électronique fournit une plus grande chambre d'échantillon aux deux échantillons de grande grandeur et d'un plus large champ de vue pour le fait de refléter. Sa haute résolution et sa longue distance de travail permettent l'intégration de la microscopie et des techniques analytiques. Le dispositif SCATRAP est une fonctionnalité utile sur le modèle qui aide à améliorer la résolution de l'imagerie en supprimant les effets des gaz résiduels. L'atmosphère de la chambre de prélèvement peut être contrôlée pour analyser des particules fragiles. S 8820 Scanning Electron Microscope fournit de nombreuses capacités d'analyse, ce qui en fait un outil approprié pour un large éventail d'applications allant de l'inspection de la qualité à la recherche et les domaines éducatifs. Il fournit des processus automatisés tels que l'alignement automatique, le chargement d'échantillons et le sous-échantillonnage.