Occasion HITACHI S-8820 #9170906 à vendre en France
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Vendu
ID: 9170906
CD Scanning electron microscope (SEM), 8"
Substrate type: 8" Silicon wafer / (2) Ports
HV Controller
MHV PCB
NDEF / LENS PS
Stage controller
EVAC Controller
TMP Controller 1, 2
Utility indicator
Linear counter
COL-CN PCB
ST Sensor PCB
Linear amp
TMP 1, 2
COL-DCPS
Ion pump power
AV3 Gate valve assy
Halogen lamp assy
Solanoid assy
Bake assy
Gun head
Stage driver X,Y
ION Pump backup
Battery
VME Rack:
ECPU263
COGNEX 4400
PS Disp
IMEM
EO CONT
SIP PCB
ECONT
SGVA
NOMAFC
Power supply:
EWS UPS
NIP PCB
IP Power supply unit
Main power supply unit
Transfer unit ((2) ports):
Pre aligner
Transfer robot
Teaching box
Robot controller
(2) Vacuum pumps
CRT Monitor
Transfer box
Exhaust line
1994 vintage.
HITACHI S-8820 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui fournit des images visuelles très détaillées et précises de la surface microscopique des matériaux. Ce SEM dispose d'un large éventail de caractéristiques, le rendant adapté à une variété d'applications, y compris la recherche, le contrôle de la qualité de la production et de l'ingénierie, la caractérisation des matériaux et l'analyse des défaillances. L'équipement est équipé d'une source d'électrons compacte et d'un détecteur numérique multicanal hautement sensible qui permet d'observer efficacement les différentes modifications et différences de matériaux à des grossissements élevés. Le microscope électronique à balayage HITACHI S 8820 est équipé d'une large gamme de capacités d'imagerie, permettant des images allant jusqu'à 0,6 nm. Le système est capable d'afficher des structures de surface fragiles et tridimensionnelles ainsi que des variables normalisées, y compris des profils topographiques et dimensionnels. De plus, l'imagerie 3D de la gamme nano-dimensions peut être réalisée avec la combinaison d'un détecteur de rétrodiffusion et d'un détecteur de filtre d'énergie. De plus, l'unité intègre une unité d'observation qui peut accueillir de plus grands échantillons, ce qui la rend parfaite pour l'observation de grands échantillons physiquement sensibles. S-8820 est équipé d'un grand SIG et FIB qui fournit des capacités fiables et précises d'imagerie électronique secondaire et d'analyse des éléments. Le FIB est combiné avec un détecteur de filtre d'énergie, ce qui signifie qu'il peut fournir une analyse de micro-structure ultra haute résolution même pour des échantillons très difficiles. En outre, la S 8820 est livrée avec un ensemble de fonctionnalités avancées, y compris le SEM environnemental qui permet d'observer les matériaux dans une variété de paramètres, y compris le vide, le vide faible/moyen et la pression atmosphérique. Dans l'ensemble, HITACHI S-8820 est un excellent choix pour tout chercheur ou ingénieur. La machine dispose d'un large éventail de capacités d'imagerie, est capable d'imagerie nano-dimensions, et peut traiter des échantillons grands et physiquement sensibles. En outre, l'outil est équipé de fonctionnalités avancées telles que le SEM environnemental, l'imagerie électronique secondaire et l'analyse d'éléments. Avec tant de fonctionnalités et de capacités en un seul paquet, HITACHI S 8820 est un excellent choix pour toute application.
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