Occasion HITACHI S-8820 #9170906 à vendre en France

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ID: 9170906
CD Scanning electron microscope (SEM), 8" Substrate type: 8" Silicon wafer / (2) Ports HV Controller MHV PCB NDEF / LENS PS Stage controller EVAC Controller TMP Controller 1, 2 Utility indicator Linear counter COL-CN PCB ST Sensor PCB Linear amp TMP 1, 2 COL-DCPS Ion pump power AV3 Gate valve assy Halogen lamp assy Solanoid assy Bake assy Gun head Stage driver X,Y ION Pump backup Battery VME Rack: ECPU263 COGNEX 4400 PS Disp IMEM EO CONT SIP PCB ECONT SGVA NOMAFC Power supply: EWS UPS NIP PCB IP Power supply unit Main power supply unit Transfer unit ((2) ports): Pre aligner Transfer robot Teaching box Robot controller (2) Vacuum pumps CRT Monitor Transfer box Exhaust line 1994 vintage.
HITACHI S-8820 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui fournit des images visuelles très détaillées et précises de la surface microscopique des matériaux. Ce SEM dispose d'un large éventail de caractéristiques, le rendant adapté à une variété d'applications, y compris la recherche, le contrôle de la qualité de la production et de l'ingénierie, la caractérisation des matériaux et l'analyse des défaillances. L'équipement est équipé d'une source d'électrons compacte et d'un détecteur numérique multicanal hautement sensible qui permet d'observer efficacement les différentes modifications et différences de matériaux à des grossissements élevés. Le microscope électronique à balayage HITACHI S 8820 est équipé d'une large gamme de capacités d'imagerie, permettant des images allant jusqu'à 0,6 nm. Le système est capable d'afficher des structures de surface fragiles et tridimensionnelles ainsi que des variables normalisées, y compris des profils topographiques et dimensionnels. De plus, l'imagerie 3D de la gamme nano-dimensions peut être réalisée avec la combinaison d'un détecteur de rétrodiffusion et d'un détecteur de filtre d'énergie. De plus, l'unité intègre une unité d'observation qui peut accueillir de plus grands échantillons, ce qui la rend parfaite pour l'observation de grands échantillons physiquement sensibles. S-8820 est équipé d'un grand SIG et FIB qui fournit des capacités fiables et précises d'imagerie électronique secondaire et d'analyse des éléments. Le FIB est combiné avec un détecteur de filtre d'énergie, ce qui signifie qu'il peut fournir une analyse de micro-structure ultra haute résolution même pour des échantillons très difficiles. En outre, la S 8820 est livrée avec un ensemble de fonctionnalités avancées, y compris le SEM environnemental qui permet d'observer les matériaux dans une variété de paramètres, y compris le vide, le vide faible/moyen et la pression atmosphérique. Dans l'ensemble, HITACHI S-8820 est un excellent choix pour tout chercheur ou ingénieur. La machine dispose d'un large éventail de capacités d'imagerie, est capable d'imagerie nano-dimensions, et peut traiter des échantillons grands et physiquement sensibles. En outre, l'outil est équipé de fonctionnalités avancées telles que le SEM environnemental, l'imagerie électronique secondaire et l'analyse d'éléments. Avec tant de fonctionnalités et de capacités en un seul paquet, HITACHI S 8820 est un excellent choix pour toute application.
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