Occasion HITACHI S-8820 #9266109 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage HITACHI S-8820 (SEM) est un instrument de pointe conçu pour la recherche avancée en microscopie électronique. Il est utilisé pour l'observation et l'analyse d'échantillons en haute résolution et précision spatiale, avec une flexibilité supérieure et une large plage de fonctionnement. HITACHI S 8820 SEM est adapté à un large éventail de matériaux et d'applications, y compris l'imagerie microstructurale, la diffraction électronique nano-échelle, la caractérisation électrique, et une variété d'autres domaines. S-8820 offre d'excellentes capacités d'imagerie de contraste grâce à son canon à effet de champ à haute résolution, capable de produire des faisceaux d'électrons finement focalisés. Le canon a une énergie réglable allant jusqu'à 5kV et une faible distance de travail de 10 nanomètres entre la surface de l'échantillon et la colonne optique électronique. Ses pointes d'émission de champ athermique permettent d'ajuster davantage le profil du faisceau pour obtenir un contraste et une résolution d'image optimaux. L'étape d'échantillonnage est précise et stable, ce qui permet d'obtenir une chambre d'échantillonnage bien définie, même lorsque l'on regarde des zones plus grandes. S 8820 a intégré des fonctions automatisées avancées pour fournir un fonctionnement répétable et fiable. Ses fonctions automatiques d'alignement des échantillons et d'étouffement des images facilitent l'acquisition rapide et facile d'images à haute résolution d'échantillons de grande surface. Le microscope dispose également d'une puissante suite logicielle pour faciliter l'orientation des spécimens et l'acquisition de données. En plus de ses capacités d'imagerie, HITACHI S-8820 SEM est équipé de détecteurs de dépôts métalliques (C) LABS, EDS et EBSD permettant l'analyse élémentaire et structurale des échantillons. Sa capacité d'aspiration ultra-élevée et son système électronique à faible dérive permettent des analyses fiables même des échantillons fragiles avec des caractéristiques de surface sensibles. Le système dispose également d'une technologie avancée d'évitement des collisions, qui prévient les dommages des échantillons même en effectuant des images haute résolution ou des analyses structurelles. Dans l'ensemble, HITACHI S 8820 est un excellent microscope électronique à balayage pour des applications de recherche avancées. Sa combinaison de capacités d'imagerie haute résolution, de fonctions automatisées, d'analyse EDS/EBSD, de dépôts métalliques, de LABS (C) et de technologies d'évitement des collisions fournit aux utilisateurs un outil puissant pour étudier les morphologies et les structures des échantillons avec plus de clarté et de détails que jamais auparavant.