Occasion HITACHI S-8820 #9266234 à vendre en France

HITACHI S-8820 Scanning Electron Microscope (SEM) est un modèle de référence haut de gamme utilisé dans divers domaines de recherche scientifique à travers le monde. Le microscope utilise un canon à émission de champ (FEG) combiné à un système de détection avancé pour obtenir des images à haute résolution de spécimens à des grossissements compris entre 1 000 et 300,000X. Les SEM tels que HITACHI S 8820 fournissent une multitude d'analyses topographiques et chimiques à la surface des spécimens dans une variété de domaines allant de la science médicale à la science des matériaux. La FEG de l'instrument est essentielle à l'exactitude et à la précision de l'image. La FEG émet un faisceau étroit d'électrons, le diamètre du faisceau étant inversement proportionnel à la tension du faisceau. Le diamètre du faisceau d'électrons détermine également la résolution de l'image ; des diamètres de faisceau plus petits permettent des images à plus haute résolution. S-années-8820 FEG opèrent à 3KV, 5KV et 10KV et un 'Haut' mode À vide de 1KV, en fournissant le contrôle supérieur sur le faisceau d'électrons. S 8820 Scanning Electron Microscope utilise un système de détection avancé pour une qualité d'image optimale. Une variété de détecteurs capturent ensemble les électrons réfléchis de l'échantillon, du volume ou de la surface de l'échantillon, fournissant beaucoup plus de données qu'un microscope optique traditionnel. HITACHI S-8820 fournit un détecteur de signaux SE, qui mesure le nombre de signaux réfléchis par des électrons avec une grande précision, ainsi qu'un détecteur d'électrons rétrodiffusé (BSD) pour une meilleure analyse élémentaire et superficielle, et un détecteur d'électrons secondaire (SED) avec une tension continuellement variable pour l'imagerie de profil de profondeur. HITACHI S 8820 Scanning Electron Microscope contient un mode d'imagerie électronique secondaire, offrant un examen approfondi de la composition et de la structure d'un échantillon sans qu'il soit nécessaire de prélever des échantillons. En outre, S-8820 a un mode SEM environnemental (ESEM), qui peut être utilisé pour l'image de matériaux hydratés ou souples sans la nécessité de la préparation de surface ou la présence d'un revêtement de surface. Ce mode permet aux utilisateurs de capturer des objets dans leur état natif, donnant des résultats plus précis. La flexibilité et la gamme du S 8820 lui permettent d'être intégré de façon transparente dans n'importe quel cadre de laboratoire. La conception conviviale du microscope et les fonctions automatisées donnent aux scientifiques la liberté de mener leurs recherches de la manière la plus favorable à leur projet. Les capacités de tomographie et d'imagerie 3D les plus modernes permettent une analyse structurelle et de qualité inégalée. Couplé à la haute résolution et à l'interface utilisateur facile, HITACHI S-8820 offre aux scientifiques un outil inestimable pour la recherche professionnelle.