Occasion HITACHI S-8820S #9239796 à vendre en France

ID: 9239796
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1996
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 8" 1996 vintage.
HITACHI S-8820S Scanning Electron Microscope (SEM) est un choix populaire pour les installations de recherche avancée et les applications industrielles. Le microscope est conçu pour permettre l'observation à haute résolution des structures fines et des caractéristiques d'un large éventail de spécimens. Se distinguant par ses performances optiques superbes et sa fiabilité, HITACHI S-8820 S SEM excelle à produire des images claires et vives de détails fins. S 8820 S dispose d'une chambre de pression variable qui maintient des niveaux de pression tout au long du processus d'observation, permettant d'observer des spécimens biologiques dans leur état naturel. Il est également équipé d'une carte à mémoire programmable pour stocker et rappeler des données d'observation. En outre, HITACHI S 8820 S dispose d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) haute résolution, ce qui facilite la connaissance de la composition chimique des échantillons. S-8820S utilise un canon à électrons à émission de champ, qui produit des images fluorescentes de rayons X sur un moniteur à partir de l'irradiation de l'échantillon. Cela permet au microscope d'analyser et d'observer la structure interne en couches et la distribution des oligo-éléments. S-8820 S peut également acquérir des images 3D, permettant l'observation de spécimens sous divers angles et de structures fines en détail. Contrairement à un microscope à balayage tunnel, HITACHI S-8820S est capable d'observer des spécimens à une plus grande profondeur et grossissement, grossissant jusqu'à 300.000x. De plus, sa lentille électronique haute résolution peut focaliser des faisceaux aussi petits que 2nm et capturer des images claires et vives. En termes de résolution, HITACHI S-8820 S offre des performances exceptionnelles avec des résolutions aussi petites que 1Å. Le microscope est également capable de mesurer des facteurs tels que la topographie, la morphologie de surface et la structure cristalline. De plus, le détecteur d'électrons secondaires (SE) offre un excellent contraste et une netteté d'image. Visant à fournir un système convivial, la S 8820 S est équipée d'un écran tactile ergonomique facile à utiliser et à revoir rapidement les images. En outre, HITACHI S 8820 S comprend des fonctionnalités telles que stigmate automatique pour une mise au point facile et la correction des angles de déflecteur. Dans l'ensemble, S-8820S dispose d'un large éventail de fonctions opérationnelles, fournissant à l'utilisateur les images et les résultats de la plus haute qualité. Il est également très fiable, grâce à son électronique avancée et l'optique avancée. Par conséquent, le S-8820 S est largement utilisé dans des domaines tels que la science des matériaux, la recherche et la production de semi-conducteurs et la recherche biologique.
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