Occasion HITACHI S-8840 #9077721 à vendre en France

HITACHI S-8840 est un appareil de microscopie électronique à balayage (SEM) fonctionnant avec un haut niveau de précision, permettant une grande variété d'applications. Il est utile pour inspecter la structure de surface d'un échantillon, mesurer les caractéristiques de taille de nanomètre avec une grande précision, et caractériser les propriétés électriques et chimiques des matériaux. HITACHI S8840 offre des capacités d'imagerie et d'analyse de haute performance et de qualité. Ce système avancé dispose d'une unité à vide élevé intégrée qui permet un fonctionnement sous vide de haut niveau. Cela permet une imagerie à plus haute résolution et une meilleure performance analytique. De plus, les modes à vide faible et moyen permettent une imagerie non destructive des matériaux de surface et non conducteurs. S 8840 intègre plusieurs types de détecteurs, dont des détecteurs d'électrons secondaires et rétrodiffusés, un détecteur de rayons X dispersifs à haute performance énergétique (EDX) et une coupe Faraday à haute sensibilité intégrée. Ensemble, ces détecteurs peuvent détecter une variété de signaux d'électrons et de rayons X. Le détecteur EDX est particulièrement puissant, permettant une analyse élémentaire du spécimen à résolution atomique. La coupe Faraday haute performance permet une analyse précise des faibles signaux électroniques secondaires et rétrodiffusés, tout en minimisant la charge de l'échantillon. HITACHI S 8840 dispose également d'un canon à haute résolution pour les émissions de champ (FEG) qui peut être utilisé pour obtenir une imagerie à plus haute résolution. FEG permet une imagerie sous-nanométrique de haute qualité et une imagerie à balayage rapide jusqu'à 0,75 millisecondes par trame. En outre, S-8840 est bien équipé pour des applications avancées telles que la micro-manipulation in situ, l'analyse chimique in situ, et en temps réel 3D-reconstruction. La micro-manipulation in situ permet un contrôle précis du spécimen et une analyse ultérieure. Avec l'analyse chimique in situ, l'analyse chimique directe d'un échantillon peut être effectuée dans la chambre SEM, avec l'échantillon placé in situ, évitant la nécessité de le déplacer dans une chambre d'analyse séparée. Avec 3D-reconstruction temps réel, des images 3D de haute précision sont créées en enregistrant des images de la surface de l'échantillon au fur et à mesure de sa rotation. Enfin, S8840 dispose d'une fonction innovante de correction auto-ombrage qui ajuste automatiquement le gain du détecteur, permettant une meilleure qualité d'imagerie des surfaces non uniformes. En bref, HITACHI S-8840 est une machine avancée de microscopie électronique à balayage avec une large gamme de fonctionnalités et de capacités. Il offre une excellente qualité d'imagerie et des capacités d'analyse élémentaire, grâce à son outil de vide intégré et à divers détecteurs. Ses fonctions avancées en font une solution idéale pour la mesure et la caractérisation de surface de haute précision.