Occasion HITACHI S-8840 #9236032 à vendre en France

HITACHI S-8840 est un microscope électronique à balayage (SEM) capable de produire des images à haute résolution et d'analyser la surface d'échantillons solides. Ce microscope avancé utilise un détecteur d'électrons secondaires de type thornley à haute résolution, qui produit des images avec une résolution latérale de 0,9nm et un contraste d'électrons secondaires jusqu'à 98 %. Cet instrument est également équipé d'un générateur de rayons X à filament Tungstène capable de produire jusqu'à 30kV tension accélératrice et 9,1 nm de distance source-détecteur Pd. Cela permet une acquisition rapide des rayons X, ainsi qu'une résolution énergétique élevée. Ce microscope est un équipement sous vide qui dispose d'une chambre à vide intégrée et d'une pompe à chambre conçue pour produire un environnement à vide ultra-élevé. Cela permet à l'instrument de produire des images de haute qualité, grâce à un bruit de fond minimal. Le porte-échantillon est également capable de résister à la dose d'irradiation de 10kas, permettant à l'utilisateur d'étudier un large éventail de matériaux et d'échantillons. HITACHI S8840 dispose également d'un nouveau système de contrôle tridimensionnel du faisceau électronique, qui permet à l'utilisateur de contrôler précisément le faisceau d'électrons et d'acquérir des images très précises. Cette unité est capable de suivre l'échantillon lors du changement d'inclinaison, de rotation et même de grossissement. En outre, les systèmes d'astigmatisme variable et de filtrage spatial sont conçus pour réduire drastiquement le bruit et augmenter la qualité d'image. Enfin, ce SEM est également équipé d'une machine Bit MIDI/PAR (Pixel Area Readout) qui permet à l'utilisateur d'observer des pixels dans un motif de mosaïque numérique. Cet outil permet à l'utilisateur d'obtenir des images haute résolution même dans les sections les plus minuscules de l'échantillon. La combinaison de toutes ces caractéristiques permet à S 8840 de produire des images exceptionnelles à haute résolution capables de fournir des informations claires et détaillées pour l'étude des matériaux et des surfaces.