Occasion HITACHI S-8840 #9236750 à vendre en France

HITACHI S-8840 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) qui fournit des capacités d'imagerie et de spectroscopie dans un seul instrument. Cet instrument est une coentreprise entre HITACHI High-Technologies Corporation et Oxford Instruments et utilise des technologies telles que l'imagerie dynamique-secondaire-électron (DSE), la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDX) et la spectroscopie à rayons X dispersive de longueur d'onde (WDS). Ce SEM est équipé d'un détecteur avancé et de détecteurs de rayons X, tous deux placés dans la colonne du microscope. Les détecteurs agissent à la fois comme des optiques et des détecteurs, permettant à l'utilisateur d'effectuer des mesures simultanées pendant les opérations SEM. Les capacités d'imagerie de HITACHI S8840 comprennent une résolution optimale de 1,4 nanomètre et une distance de travail de 5mm pour permettre l'imagerie zoomique. Il est également capable d'une pression de chambre variable allant de 10-7 à 10-2 torr, permettant une gamme de techniques d'analyse de surface. Les capacités spectroscopiques du SEM sont également excellentes, avec un système EDX haute résolution et un système WDS. Le Spectromètre EDX est équipé avec une extraction de temps vivante rapide de 20 secondes et 10KV le voltage accélérant. Le système WDS offre une résolution maximale de 100 eV, permettant à l'utilisateur d'observer à la fois des éléments non métalliques contaminés et des oligo-éléments en une seule opération. De plus, le S 8840 est livré avec le logiciel « S-Control PC » qui permet l'automatisation très polyvalente du fonctionnement SEM. Ce logiciel permet à l'utilisateur d'automatiser des tâches répétitives, de générer différents types de placettes et d'analyser facilement des ensembles de données brutes. Dans l'ensemble, S-8840 fournit d'excellentes capacités de microscopie électronique à balayage et des capacités spectroscopiques qui en font un produit de base dans la recherche industrielle et universitaire. Ses détecteurs avancés, ses capacités d'imagerie et ses logiciels lui permettent d'effectuer des mesures à couper le souffle tandis que ses capacités de spectroscopie lui permettent d'analyser des éléments métalliques et non métalliques.