Occasion HITACHI S-9220 #112770 à vendre en France

Il semble que cet article a déjà été vendu. Consultez les produits similaires ci-dessous ou contactez-nous et notre équipe expérimentée le trouvera pour vous.

ID: 112770
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 2000
CD SEM, 8" CD Scanning Electron Microscope, 8" Upgraded from HITACHI S-9200 Specifications: Control unit: HITACHI 19" monitor HP 132 work station Keyboard and mouse MO driver 80 col thermal printer Image printer: MITSUBISHI P-91 LAN hub and modem E/O creating: ECPU and control PCB Main body: Loader chamber Wafer holder Exc chamber and arm HV control unit (2) Turbo pumps and controllers OM camera (2) SEI detectors Lens power supply Lens controller EVAC power supply Stage power supply EVAC controller OM light unit Stage controller C to C unit: Robot controller (2) Area sensor controllers Wafer pre-aligner Robot and arm (2) Cassette indexers: 8", open Power unit: Ion pump power UPS Power distribution unit Baking control unit (2) Dry pumps MO disk: HITACHI software Weight block: includes (4) vacuum hoses Chiller 2000 vintage.
Le microscope électronique à balayage HITACHI S-9220 (SEM) est un outil puissant pour l'imagerie microstructurale. Il est doté d'un détecteur d'électrons secondaire 3 en 1, d'une faible tension d'accélération de kV et d'un détecteur de type optique très stable. HITACHI S9220 dispose d'une grande lentille de canon pour fournir une tension d'accélération très stable, permettant d'améliorer la résolution et la qualité de l'image. Le détecteur d'électrons secondaire 3 en 1 fournit des images à haute résolution avec un grand niveau de détail et de contraste. La faible tension d'accélération kV permet l'imagerie basse kV des échantillons conducteurs et le détecteur de type lentille améliore le contrôle précis du faisceau d'électrons. S 9220 est un excellent choix pour la recherche et le développement. Il est alimenté par un système d'imagerie CCD (High-Capacity Charge Coupled Device) et offre un progiciel de pointe pour le contrôle précis de l'optique électronique. Cela permet aux utilisateurs d'explorer et d'analyser des microstructures à l'échelle du nanomètre, fournissant une façon automatisée de mesurer les propriétés des échantillons. S9220 offre également une variété de différentes capacités de préparation d'échantillons et d'imagerie. Le porte-échantillon peut accueillir un large éventail de matériaux, et peut être tourné pour faciliter l'imagerie de l'orientation exacte de l'échantillon. Le porte-échantillon peut également être utilisé pour monter plusieurs échantillons, ce qui le rend idéal pour des études comparatives. Le mode d'imagerie par électrons rétrodiffusés (ESB) de S-9220 permet une imagerie rapide et une analyse quantitative des phases dans les images bidimensionnelles (2D). L'imagerie sous vide (L-V) permet également l'imagerie d'échantillons avec des surfaces non conductrices sans nécessité de revêtement. HITACHI S 9220 a été conçu pour offrir une performance et une fiabilité exceptionnelles. L'interface conviviale permet aux nouveaux chercheurs expérimentés de se familiariser rapidement avec ses fonctionnalités et son contrôle. Le système est également conçu avec une gamme de caractéristiques de sécurité, assurant la protection de ses utilisateurs et de leurs échantillons. HITACHI S-9220 offre des capacités d'imagerie étonnantes et un contrôle précis, ce qui en fait le choix idéal pour la recherche et le développement. Sa sensibilité à la détection, sa facilité d'utilisation et sa fiabilité en font l'outil parfait pour explorer et analyser les microstructures.
Il n'y a pas encore de critiques