Occasion HITACHI S-9220 #9041829 à vendre en France

HITACHI S-9220
ID: 9041829
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) Type: SMIF.
HITACHI S-9220 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir une imagerie de haute qualité et la détection de fonctionnalités dans un boîtier compact. Ce microscope électronique à balayage est spécialement conçu pour l'imagerie et la détection de caractéristiques à l'échelle nanométrique et est un outil fiable et précis. Il est capable de fournir une imagerie de haute qualité et sensible des caractéristiques topographiques et élémentaires à l'échelle nanométrique. HITACHI S9220 a une résolution de 0,6 nm à 5kV avec un grossissement de 50 000 fois en mode scanner. La taille de l'échantillon est d'environ 12mm de diamètre, ce qui permet d'imiter de plus grands échantillons et spécimens en détail. En termes de fonctionnement, le S 9220 dispose d'un équipement de balayage automatisé intégré pour un balayage plus rapide et plus précis. Pour la polyvalence, il a à la fois l'imagerie électronique rétrodiffusée et l'imagerie électronique secondaire, ainsi que la détection de points d'arrêt simples et multiples. En ce qui concerne l'imagerie, S-9220 contient une grande variété de capacités d'imagerie, telles qu'un détecteur d'électrons rétrodiffusés (BE), un détecteur d'électrons secondaires (SE) et une détection à arrêts multiples. Le détecteur SE fournit des images crues d'éléments plus légers à des résolutions plus élevées tandis que le détecteur BE fournit des informations topographiques pour une meilleure compréhension de la structure de surface d'un échantillon. La détection de points d'arrêt multiples permet de localiser avec précision les caractéristiques de taille nanométrique. En outre, HITACHI S 9220 dispose d'un système de balayage motorisé intégré pour un balayage plus rapide et plus précis. S9220 est également capable d'imiter des échantillons non conducteurs, tels que des polymères, grâce à sa technologie de source d'émission sur le terrain. Il a une colonne de focalisation détecteur d'électrons secondaire, qui permet une meilleure résolution spatiale et une meilleure imagerie de petites caractéristiques. HITACHI S-9220 dispose également d'un environnement automatisé de préparation des échantillons, qui permet de préparer les échantillons par lots à la fois. La technologie de cartographie automatisée des fonctionnalités facilite la détection et la cartographie des fonctionnalités, ce qui est bénéfique pour les applications de contrôle de qualité. Enfin, HITACHI S9220 dispose d'une interface conviviale et de contrôles intuitifs, ce qui facilite l'utilisation des opérateurs novices et expérimentés. En outre, une large gamme d'accessoires sont disponibles pour s'adapter à l'unité de montage du microscope pour diverses expériences, telles qu'un adaptateur à vide réduit, adaptateur à vide élevé, étage rotatif, étage basculant, sélecteur d'énergie et machine vidéo optique. Ces accessoires offrent la flexibilité nécessaire pour mener des expériences dans diverses conditions et analyser les résultats avec précision.
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