Occasion HITACHI S-9220 #9099556 à vendre en France

HITACHI S-9220 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir une imagerie haute résolution des caractéristiques des échantillons de surface et de section transversale. Avec son unique module intégré Multi-Focus Ion Beam (FIB), HITACHI S9220 est capable de réaliser des fraisages de précision, des images, des dépôts en couches minces et d'autres techniques innovantes d'analyse des matériaux. Le système est équipé d'une source d'électrons et d'un système de visualisation et d'imagerie. La source d'électrons produit des électrons à haute énergie à partir d'un filament de tungstène. Les électrons sont ensuite accélérés à travers deux lentilles électrostatiques de focalisation et focalisés sur la surface de l'échantillon. Lorsque les électrons atteignent l'échantillon, les interactions avec les atomes créent des électrons secondaires qui peuvent être détectés à la surface. Les électrons rétrodiffusés sont enregistrés et utilisés pour produire une image de l'échantillon et mesurer la concentration d'éléments spécifiques. Une autre caractéristique unique à S 9220 est son module Multi-Focus Ion Beam (FIB), qui permet aux chercheurs d'effectuer des fraisages de précision, l'imagerie, le dépôt de couches minces, et d'autres techniques innovantes d'analyse des matériaux. Le FIB utilise un faisceau ionique focalisé pour broyer de petites zones de la surface de l'échantillon et créer une image à haute résolution en coupe transversale. Cet outil puissant permet aux chercheurs d'examiner plus avant les couches internes de l'échantillon sans les détruire, ainsi que d'appliquer des matériaux à la surface. Les caractéristiques de la HITACHI S 9220, associées à sa haute résolution, en font l'un des instruments SEM les plus avancés du marché. Grâce à ses capacités avancées et à sa technologie d'imagerie de pointe, S-9220 donne aux chercheurs la confiance que leurs résultats sont de la plus grande précision et qualité. En conséquence, S9220 est idéal pour les applications qui exigent la plus grande précision dans l'analyse des matériaux et l'imagerie.