Occasion HITACHI S-9220 #9200635 à vendre en France

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ID: 9200635
CD Scanning electron microscope, 8" System information: Work station Model: B180L O/S: HP Unix General specifications: SEMI/JEIDA standard orientation Flat or V notch wafers Measurement method: Cursor / Line profile Measurement range: 0.1µm ~ 2.0 µm Measurement repeatability: ±1% / 3 nm (3 sigma) whichever larger Throughput: 56 Wafers/hr Measured points: 1 Point/chip, 5 Chips/wafer Secondary electron image resolution: 3nm Image magnification: 500 ~ 300kx Electron optics system: Electron gun: Schottky emission Accelerating voltage: 500 ~ 1,600 V Lens system: Scintillator/photomultiplier detection system ExB Filter SE / BSE Electrons Objective lens aperture: Heating type movable aperture Fine adjustment possible Scanning coil: 2 stage electromagnetic deflection Stigmator coil: 8-pole electromagnetic type (X, Y axes) Probe current monitoring: Faraday cup incorporated, with automatic measurement Optical microscope: 1.2-mm-square visual field, monochrome image Stage: Movement range: X, Y: 0 ~ 200mm Driving method: Pulse motor Control/speed: Positioning contro Linear encoder Maximum speed: 100mm/s Loader: Wafer transfer: Cassette to loader chamber: Auto transfer via wafer transfer robot Loader chamber to stage: Auto evacuation and auto loading Wafer transfer robot system: Random access using two cassettes Wafer detection in cassette: Automatic detection via wafer searcher Chucking method: Vacuum chucking on back of wafer Orientation flat / V notch detection: Non-contact auto detection via optical sensor Control and display system: CRT: EWS 21 Type monitor display of SEM and OM images GUI Operation screen Wafer map Measured values Stage coordinates Scanning modes: TV Scan HR Scan Slow scan With auto brightness/contrast function Image Processing: Hardware processing using DSP (Option) Recording: Video printer output function (Option) Image filing function (Option) Safety device: Equipped with emergency off swith CD Measurement data processing system: File storage: Storage function for various setting parameters, measurement results Storage media: Hard disk (9.1GB) incorporated in EWS 3.5 Type magneto-optic disk 3.5" Floppy disk Data process function: Statistics output Worksheet system Output of measured values in real time graph Printout: 80 Character thermal printer Evacuation system: Full automatic Dry / Clean evacuation Vacuum pumps : (3) Ion pumps (2) Turbo molecular pumps (2) Oil rotary pumps Safety devices: Protective device against: Power failure Column vacuum level drop Dry air pressure drop Cooling water flow rate drop Grounding: 1000 or less (Single) Nitrogen: 200 ~ 680kPa Pipe outer diameter: 6mm Vacuum: P: 1.3 ~ 21.3 kPa or less Pipe outer diameter: 6mm Circulation cooling water: 98.1 ~ 196kPa Pipe outer diameter: 15mm Environmental conditions: Magnetic field: AC magnetic field: 0.3µT or less DC magnetic field: 0.1µT or less Vibration: Horizontal direction: 1Hz: 3µm (P-P) Max 2Hz: 0.7µm (P-P) Max 3Hz: 1.2µm (P-P) Max 4Hz: 2µm (P-P) Max 5Hz: 3µm (P-P) Max 10Hz: 3.5µm (P-P) Max Noise: Less than 75 dB Room temperature: 20 ~ 25°C (Δt = ±2°C) Humidity: 60% or less Utility: Power: 100 V, 200 V, 208 V, 230 VAC 6 kVA 50/60 Hz 1 Phase 2001 vintage.
HITACHI S-9220 est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe. Ce microscope à sonde électronique est une plate-forme polyvalente pour analyser les structures jusqu'à des résolutions sous-nanométriques. Il offre une excellente résolution de pixel dans la gamme de 1-2 nanomètres et optimise la qualité et la résolution de l'image sur la longueur et la largeur de l'échantillon examiné. Le haut grossissement de HITACHI S9220 jusqu'à 1.000.000x magnitude permet aux chercheurs d'inspecter soigneusement les moindres détails des objets nanométriques. La SEM classique nécessite une chambre à vide pour le fonctionnement et la S 9220 ne fait pas exception ; cependant, il utilise un grand équipement commercial de vide sec qui assure un haut degré de fiabilité tout en offrant des performances supérieures. Ce système de vide limite les effets des ions, des molécules d'air et d'autres particules qui peuvent provoquer la présence d'artefacts dans l'image. L'utilisation d'une unité Ultra Low Vacuum (ULV) maintient la pression dans la chambre constante pendant une plus longue période, permettant de recueillir plus d'informations à partir de l'échantillon et de produire une meilleure qualité d'image. HITACHI S 9220 est équipé d'une machine d'imagerie qui comprend un canon à émission de champ pour émettre des électrons à haut niveau d'énergie, une lentille de condenseur pour focaliser ces électrons sur l'échantillon, un détecteur pour recueillir les signaux et un détecteur d'image pour traiter l'image. Cet outil d'imagerie offre des performances supérieures grâce à ses lentilles de précision et ses électrons à haute énergie qui peuvent facilement pénétrer dans l'échantillon et cartographier sa structure atomique. L'étape-échantillon de S-9220 est capable de déplacer l'échantillon autour de 4 axes (x, y, z et rotation) pour manipuler précisément la zone requise qui doit être imagée. Le porte-spécimen permet pour les spécimens qui vont des grands et lourds échantillons à des échantillons délicats et petits. De plus, l'étape d'échantillonnage comporte également une unité à température contrôlée pour contenir l'échantillon pendant le refroidissement et analyser sa composition chimique. S9220 intègre également deux outils de mesure pour analyser l'échantillon. Le premier outil est un détecteur de rayons X (EDS) dispersif d'énergie. Cette unité permet de déterminer la composition chimique de l'échantillon avec une très grande précision. L'autre outil est un outil de diffraction des rayons X (XRD). Cette jauge permet aux chercheurs de déterminer la structure cristalline des matériaux sous différents angles et orientations. Dans l'ensemble, HITACHI S-9220 est le microscope électronique à balayage idéal pour effectuer une analyse détaillée des objets nanométriques. Son important actif commercial sous vide sec, son modèle d'imagerie électronique à haute énergie et ses multiples étapes et outils rendent ce SEM fiable et précis, permettant aux chercheurs d'obtenir facilement des images précises et à haute résolution.
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