Occasion HITACHI S-9220 #9212951 à vendre en France
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ID: 9212951
Critical dimension scanning electron microscope (CD-SEM)
Upgraded from S-9200.
HITACHI S-9220 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui utilise des faisceaux d'électrons focalisés pour former des images de la surface des spécimens à des grossissements allant jusqu'à 100,000X. L'instrument est capable d'effectuer l'imagerie, la microanalyse et la tomographie 3D. Il utilise une multitude de fonctionnalités avancées pour améliorer l'expérience utilisateur telles que : un mode à haut débit, un piquage automatisé d'image, une tension d'accélération réglable et des paramètres réglables de stabilisation de la focale. La colonne optique utilise une grande distance source-échantillon avec un angle d'inclinaison réglable pour une flexibilité maximale de l'installation d'imagerie. Les faisceaux d'électrons à haute énergie sont générés par un canon à électrons à vide à orientation horizontale. La luminosité et la taille du faisceau d'électrons peuvent être ajustées pour optimiser les performances d'imagerie. Le système de focalisation objectif est conçu pour fournir une imagerie de résolution supérieure avec une distorsion minimale. L'objectif est équipé d'une grande variété de systèmes de détection incluant des détecteurs de post-faisceau numériques et analogiques. Les principales capacités d'imagerie comprennent une seule prise de vue et plusieurs prises de vue. Les images numériques peuvent être capturées directement à partir du système d'imagerie avec une capacité de mise au point permettant une résolution et une clarté encore plus grandes. Des grandeurs variables et des tailles de surface de balayage sont disponibles pour tenir compte de différentes tailles d'échantillons et de résolutions de fonctionnalités. L'imagerie tomographique 3D est également possible en utilisant une variété de procédures d'imagerie. En plus de l'imagerie, HITACHI S9220 SEM est conçu pour faciliter la microanalyse avec la capacité de détecter des traces de substances chimiques et d'éléments. Les capacités d'analyse comprennent la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS), la fluorescence aux rayons X (XRF) et la diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD). S 9220 SEM dispose d'une variété de fonctionnalités conviviales, ce qui en fait un outil polyvalent et puissant pour ceux dans la recherche de matériaux et d'appareils. Les fonctions automatisées, telles que la stabilisation des foyers, réduisent le besoin d'entrée de l'utilisateur pendant le fonctionnement. Il dispose également d'une variété de logiciels, comme EDX Studio, qui rationalisent le flux de travail et le traitement des données. La combinaison d'imagerie de précision, de microanalyse puissante et d'applications conviviales font de S9220 SEM un excellent choix pour ceux qui ont besoin de performances d'imagerie et d'analyse avancées.
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