Occasion HITACHI S-9220 #9231943 à vendre en France

HITACHI S-9220 est un microscope électronique à balayage (SEM) avec des performances haut de gamme nécessaires pour la caractérisation des matériaux avancés, la recherche et les applications industrielles. Il permet aux utilisateurs d'accéder à une gamme complète de capacités d'imagerie et d'analyse. Ce microscope électronique à balayage d'émission de champ (FE-SEM) dispose d'un canon électronique à émission de champ à haute performance avec des pressions de chambre aussi basses que 1x10-7 Pa, rendant la résolution d'imagerie supérieure de 1nm réalisable. HITACHI S9220 dispose d'une conception de colonne ultra-stable pour transmettre des courants électriques plus élevés jusqu'à 60 nA à régulation de température inférieure à 2.0℃. En outre, la tension d'accélération 300kV fournit une résolution d'imagerie améliorée. S 9220 est équipé de nombreuses caractéristiques uniques. Par exemple, les détecteurs d'Inlens et d'Everlens affichent une imagerie électronique secondaire et rétrodiffusée qui améliore la résolution et la topographie de surface. Un autre trait est le stade de scanner à grande vitesse qui peut fournir un taux de scanner maximum de 4.5 μ/s sur 100 μm XY le champ de vue. En outre, la chambre à vide ultra-haute peut fournir une pression de chambre jusqu'à 1x10-7 Pa pour aider à prévenir les contritions des échantillons et réduire les dommages du faisceau d'ions. S-9220 est en mesure d'acquérir une variété d'informations analytiques. La spectrométrie à rayons X dispersifs énergétiques (EDS) permet l'analyse de la composition élémentaire. Un détecteur EBSD permet l'acquisition de cartes d'orientation, l'identification de phase, l'analyse semi-quantitative des grains ainsi que la mesure de la composition chimique. De plus, le correcteur Cs en colonne permet une correction de l'astigmatisme pour un ajustement rapide de la focale. S9220 FE-SEM présente également diverses techniques de préparation d'échantillons pour les matières organiques. La tomographie par sonde atomique, la spectrométrie de masse des ions secondaires, la microscopie laser et les capacités du faisceau ionique focalisé (FIB) peuvent être ajoutées pour améliorer encore les capacités de l'instrument. En outre, EDAX offre un module Galaxy avec la capacité unique de relier le détecteur HITACHI S 9220 SEM et EDS avec le détecteur Inlens du microscope. La caméra Hirox et le système de protection contre les collisions SEMcore offrent également des caractéristiques de sécurité vitales à l'utilisateur. Le système de protection contre les collisions SEMcore arrêtera automatiquement la scène pour empêcher l'utilisateur d'endommager l'échantillon. Avec ses performances d'imagerie et d'analyse améliorées, HITACHI S-9220 est l'outil parfait pour la caractérisation des matériaux et la recherche.