Occasion HITACHI S-9220 #9261868 à vendre en France

HITACHI S-9220 est un microscope électronique à balayage à haute résolution à émission de champ froid (FE-SEM) conçu spécifiquement pour l'imagerie à fort grossissement et l'analyse de caractéristiques de taille micron. Le microscope est capable de fonctionner à des grossissements jusqu'à 150000X et des résolutions jusqu'à 1,5 nm permettant une imagerie et une analyse très détaillées des échantillons jusqu'au niveau atomique. HITACHI S9220 utilise une source d'électrons à faible énergie en champ froid (CFES) pour une stabilité optimale du faisceau d'électrons et un étage à 5 axes pour la manipulation des échantillons à haut débit. Le CFES aide également à augmenter la résolution du microscope, ce qui permet une meilleure imagerie et une analyse détaillée des échantillons. La source d'électrons d'émission de champ permet également l'utilisation d'un faisceau toujours prêt (ERB) pour l'imagerie dans des conditions de faible vide. Ceci améliore les performances d'imagerie et de débit dans des échantillons avec des molécules adsorbées ou évaporées. S 9220 est également équipé d'une variété de détecteurs, y compris des détecteurs d'électrons rétrodiffusés (ESB), d'électrons secondaires (SE) et de rayons X. Le détecteur ESB peut être utilisé pour obtenir des informations sur la topographie d'un échantillon, tandis que le détecteur SE peut être utilisé pour obtenir une analyse élémentaire et pour observer des textures de surface. Le détecteur de rayons X permet l'acquisition d'informations sur la spectroscopie de rayons X dispersive d'énergie (EDX) et sur la spectroscopie de rayons X dispersive de longueur d'onde (WDX). HITACHI S 9220 SEM est capable de préparer automatiquement des échantillons à l'aide d'une gamme de systèmes de faisceau d'ions cryogénique et focalisé (FIB). Cela comprend la capacité d'effectuer l'alignement automatisé des échantillons et leur chargement, l'imagerie séquentielle automatisée et l'acquisition de données sur la taille des grains. Cela élimine le besoin de chargement manuel des échantillons et permet d'augmenter considérablement le débit. Enfin, S9220 SEM dispose d'un grand échangeur automatique d'échantillons à 4 baies. Cela permet l'automatisation de plusieurs échantillons, avec chargement et déchargement automatisés, permettant un accès rapide à une variété d'échantillons. Cette fonctionnalité améliore considérablement le débit d'imagerie et d'analyse. Dans l'ensemble, S-9220 est un FE-SEM très avancé et entièrement automatisé pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de fonctionnalités de taille micron. Sa combinaison de grossissement élevé, de CFES de pointe et de systèmes automatisés de préparation de spécimens en font un choix idéal pour l'imagerie et l'analyse quantitative d'échantillons très complexes.