Occasion HITACHI S-9260 #9351371 à vendre en France

HITACHI S-9260
ID: 9351371
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 2003
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 8" 2003 vintage.
HITACHI S-9260 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui fournit une imagerie haute vitesse et haute résolution dans un design compact. Cet instrument polyvalent est adapté à un large éventail d'applications de recherche en sciences des matériaux et en nanotechnologie. HITACHI S9260 offre une plage de tension accélérée de 0,5 à 30kV avec une option de basculement vers le haut pour l'observation angulaire, ainsi qu'une large profondeur de champ et des capacités d'imagerie de contraste élevé. Il dispose également d'une chambre à vide avec une pompe à ions octapole pour maintenir une pression dans la chambre de 1x10-5 Torr. Ceci assure un fonctionnement haute résolution et haute tension même à des pressions de chambre relativement élevées. S 9260 est équipé d'un système de détection numérique haute performance, fournissant des images stables et claires de détails microscopiques. Il utilise un détecteur d'électrons secondaires (SE), ainsi qu'un pistolet d'émission de champ pour l'imagerie haute résolution et les capacités d'analyse avancées. Le détecteur SE est utile pour l'imagerie haute résolution avec des détails fins, et le canon d'émission de champ peut être utilisé pour la microscopie électronique à balayage filtré d'énergie (ETEM). En plus des excellentes capacités d'imagerie, S9260 offre un large éventail de capacités de préparation et d'analyse d'échantillons. La chambre est capable de manipuler et d'analyser des échantillons in situ au microscope, comme le fraisage par faisceau d'ions focalisés (FIB), le revêtement des pulvérisateurs et d'autres procédés de préparation des échantillons. S-9260 dispose également de la capacité d'effectuer des expériences de diffraction électronique, et dispose d'un système automatisé d'alignement de décalage d'image sur ses étages pour positionner l'échantillon avec une précision de 0,1 um. La HITACHI S 9260 est en outre équipée d'une membrane de dégazage qui peut être placée au-dessus de l'échantillon pour réduire davantage les risques d'endommagement du faisceau d'électrons pendant l'observation. Un détecteur de champ annulaire-sombre automatisé est également disponible pour acquérir des images avec une résolution de contraste plus élevée. HITACHI S-9260 est capable d'une application SEM flexible dans divers domaines, y compris la science des matériaux, les sciences de la vie et les applications industrielles. C'est un outil fiable et rentable pour tout laboratoire de recherche à la recherche d'acquisition et d'évaluation rapides d'images d'une grande variété d'échantillons.
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