Occasion HITACHI S-9260A #9189513 à vendre en France

ID: 9189513
CD Scanning electron microscope (SEM) Missing parts: ROM PCB (Stage) ST-SUB PCB (Stage) MHV PCB Alarm IF PCB Linear scale amp Linear scale head Valve AV6 AMP Connector.
HITACHI S-9260A est un microscope électronique à balayage (SEM) idéal pour l'imagerie et l'analyse de divers matériaux allant des films de polymères aux nanomatériaux. Ce microscope dispose d'un équipement secondaire de détection d'électrons dans la lentille qui est capable de produire des images à haute résolution avec un contraste élevé dans une grande profondeur de champ. L'augmentation de la profondeur de champ permet un champ de vision plus grand, et une énergie électronique plus faible est utilisée pour réduire la charge de l'échantillon. Il en résulte une grande qualité d'image avec un excellent contraste même lors de l'imagerie d'échantillons non conducteurs tels que des films de polymères. HITACHI S 9260A dispose également d'un large éventail de capacités analytiques, y compris un système de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) à haute sensibilité. L'unité EDS est capable de fournir une identification et une cartographie élémentaires précises, permettant une analyse plus rapide et plus précise. Le SEM comprend également une machine à étages automatisée, permettant de capturer rapidement des images de grandes surfaces. De plus, le microscope est équipé d'un outil de courant de sonde à grande vitesse qui peut mesurer les signaux de courant des sondes de taille nanométrique sur l'échantillon. L'actif sous vide en S-9260 A est une conception de type extrait en deux étapes. Cela permet un temps de retournement rapide car le vide est prêt à être utilisé immédiatement après le dernier échantillon. Les étages du microscope sont motorisés, permettant un positionnement précis et une répétition aisée des tâches d'imagerie. L'objectif au microscope offre jusqu'à 50000x grossissement, fournissant beaucoup de résolution pour capturer tous les détails désirés. HITACHI S-9260 A est un microscope polyvalent avec une large gamme de caractéristiques et de capacités, ce qui le rend idéal pour l'analyse des matériaux. Son modèle secondaire de détection d'électrons dans la lentille fournit une imagerie haute résolution et un excellent contraste, même en imagerie d'échantillons non conducteurs. L'équipement EDS fournit une identification et une cartographie élémentaires précises. Le système à vide et les étages motorisés offrent un temps d'exécution rapide et un positionnement précis. Enfin, le microscope est capable de fournir jusqu'à 50000x grossissement, ce qui le rend capable de capturer même les plus petits détails.
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