Occasion HITACHI S-9280 #9200123 à vendre en France

HITACHI S-9280 Scanning Electron Microscope (SEM) est un puissant outil d'analyse qui permet l'étude détaillée des matériaux au nanomètre et au microscale. Avec son optique électronique avancée et ses fonctionnalités automatisées, il offre des capacités d'imagerie, de détection et de mesure exceptionnelles avec des niveaux de résolution inégalés. S-9280 SEM utilise un faisceau d'électrons à balayage pour acquérir des images 3D détaillées de la structure cristalline des échantillons d'analyse. Il est équipé d'une technologie d'imagerie par contre-polarisation, qui permet au faisceau d'électrons de traverser l'échantillon tout en fournissant une polarisation négative comprise entre -500V et -5kV. Ceci permet l'acquisition d'images haute résolution avec un contraste amélioré par rapport aux systèmes SEM classiques. HITACHI S-9280 est équipé d'un détecteur multi-modes qui fonctionne comme un analyseur d'énergie, produisant des images basées sur différentes propriétés de l'interaction de courant entre l'échantillon et le faisceau d'électrons. Cela permet d'analyser un large éventail de matériaux, y compris les métaux, les semi-conducteurs, les polymères et la céramique. S-9280 fournit une analyse de la composition élémentaire hautement sensible à l'aide de la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS). L'unité EDS est montée sur un bras d'échantillon réglable, ce qui lui permet d'être positionné pour une performance optimale. Grâce à ce système, les utilisateurs peuvent caractériser rapidement et avec précision les compositions élémentaires des échantillons, avec des limites de détection aussi faibles que 10ppm. La table basse dépression de HITACHI S-9280 est conçue pour des capacités de balayage optimales, et elle est capable de fonctionner en mode classique ou à basse dépression. Avec son détecteur d'électrons secondaire, les utilisateurs peuvent utiliser le mode basse dépression pour acquérir des images de contraste et de résolution plus élevées. Afin d'analyser la structure des zones sélectionnées, S-9280 offre un large éventail de capacités d'imagerie et de mesure. Grâce à l'interface automatisée, les utilisateurs peuvent mesurer l'épaisseur de l'échantillon, la topographie de surface, la structure cristalline, la taille des particules, et plus en quelques secondes. En outre, des images optiques peuvent également être acquises grâce à des composants optiques en colonne optionnels. Le logiciel de contrôle avancé HITACHI S-9280 facilite le fonctionnement, permettant aux utilisateurs de saisir, analyser et stocker rapidement les données. Il permet également la télécommande de l'instrument, permettant l'accès à distance et le partage de données. En résumé, S-9280 Scanning Electron Microscope est un outil d'imagerie supérieur avec des capacités puissantes qui lui permettent d'analyser avec précision et rapidité la structure des échantillons. Ses fonctions automatisées simplifient et accélèrent considérablement la caractérisation des différents matériaux, ce qui en fait un outil inestimable dans le domaine de la recherche nanométrique et microscopique.