Occasion HITACHI S-9380 II #293761864 à vendre en France

HITACHI S-9380 II est un microscope électronique à balayage (SEM) capable de fournir une imagerie et une analyse à haute résolution dans la gamme des nanomètres. Il est conçu pour faciliter diverses applications, telles que l'évaluation des couches minces de semi-conducteurs, la caractérisation des matériaux, la topographie tridimensionnelle et la métallographie. Le SEM est équipé d'un nouveau type de canon à électrons, SuperCentreEBeam, qui réduit considérablement l'aberration et la distorsion de l'image. Cet équipement utilise une source d'électrons de type émission de champ cathodique froid pour maximiser la stabilité et assurer un fonctionnement cohérent. Le faisceau d'électrons est sensible à un niveau STEM (microscope électronique à transmission à balayage) et fournit une imagerie haute résolution. Le SEM peut fonctionner en mode générique haute résolution ou basse tension. Le mode haute résolution utilise l'imagerie filtrée de l'énergie qui améliore la résolution et l'imagerie zéro perte qui résout les électrons secondaires (SE), les électrons rétrodiffusés (BE), et plus encore. Le mode basse tension est mieux adapté à l'imagerie des éléments de surface et des matériaux organiques. La synergie couleur 3D-SE-BE image est également présentée. Pour l'imagerie en mode transmission, le SEM est équipé d'un système d'éclairage de sonde qui éclaire l'échantillon en lumière à large spectre, réduisant le bruit dans les images. L'unité est également compatible avec des détecteurs tels que SE, BE et EDX pour effectuer une analyse élémentaire. Le SEM est équipé d'une chambre de prélèvement d'une capacité de 2,5 mm ~ 10,0 mm (H) x 6,0 mm ~ 10,0 mm (D). La chambre d'échantillonnage est également conçue pour effectuer l'inclinaison et la rotation de l'échantillon, et utilise des fonctions de vide et une machine à gaz pour assurer un fonctionnement sûr. L'interface conviviale rend le fonctionnement simple, et tous les réglages peuvent être ajustés rapidement. Les fonctions d'analyse avancée telles que l'analyse de phase majeure et mineure, la restauration d'image et les modèles de diffraction TEM sont présentées, offrant la plus grande variété d'analyses possible. Le microscope électronique à balayage HITACHI S9380 II est un outil efficace et polyvalent pour les chercheurs qui ont besoin d'une imagerie et d'une analyse de haute précision dans la gamme des nanomètres.