Occasion HITACHI S-9380 II #9095786 à vendre en France

HITACHI S-9380 II Scanning Electron Microscope (SEM) est un équipement haut de gamme conçu pour les nanosciences, la science des matériaux et les applications de recherche sur les semi-conducteurs. Il dispose d'une large gamme de grossissements allant de plusieurs millimètres jusqu'aux galeries, permettant une résolution plus élevée de l'imagerie avec une qualité d'image supérieure, avec une nouvelle génération de microanalyse haute performance comme EDX au niveau du nanomètre. Le filtre d'énergie de pointe est incorporé pour une analyse élémentaire semiquantitative efficace, offrant des avantages définitifs pour la recherche matérielle dans le domaine nano. Le système est équipé d'une chambre à vide améliorée, avec une capacité de fonctionnement encore plus grande, pour fournir un environnement précis et stable dans un large éventail d'applications. Sa construction robuste est conçue pour durer, même dans les conditions difficiles des opérations de microscopie à haute résolution. HITACHI S9380 II est équipé d'un canon à électrons à émission de champ froid (CFE), fournissant un faisceau d'électrons de haute luminosité pour une meilleure qualité d'image. Une unité d'imagerie numérique hautement sensible est une caractéristique importante de ce microscope électronique à balayage. Sa résolution dépasse celle des autres SEM de sa classe, permettant une imagerie détaillée des micro- et nano-structures. Les grandes surfaces peuvent être numérisées rapidement et efficacement avec la machine d'imagerie numérique rapide. Des caractéristiques analytiques avancées telles que l'EDX et l'EBSD sont incluses pour la cartographie de précision et l'imagerie des distributions élémentaires et de la structure cristallographique. S-9380-II est également équipé d'un porte-plaquettes pour plus de commodité lors du chargement de petits échantillons. Un outil de mémoire peut stocker jusqu'à 2000 images, permettant un rappel rapide des images précédentes, même à faible grossissement. Une fonction d'interface électronique permet de se connecter à un ordinateur personnel, permettant un contrôle informatisé avancé du microscope. S9380 II est également conçu pour la commodité de l'utilisateur. Un écran LCD de sept pouces offre une vue claire des images, permettant de les naviguer rapidement et facilement. Un design ergonomique offre un accès facile à tous les composants de S-9380 II. Une gamme complète de composants auxiliaires, y compris un autofocus laser, des systèmes automatisés de faisceaux ioniques focalisés, un étage automatisé, une acquisition de données, un étage automatisé et un équipement de traitement de données d'image, est disponible pour faciliter et accélérer les mesures et les opérations complexes. Avec ses caractéristiques impressionnantes et ses performances inégalées, HITACHI S 9380 II peut fournir l'analyse la plus sophistiquée et la plus approfondie des matériaux et des structures dans le domaine des nanomètres. Cela en fait un instrument idéal pour les nanosciences, la science des matériaux et les applications de recherche sur les semi-conducteurs. Les capacités d'imagerie et d'analyse de résolution au niveau du nanomètre en font le premier choix des chercheurs du monde entier.