Occasion HITACHI S-9380 II #9241975 à vendre en France

HITACHI S-9380 II est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour l'observation, l'imagerie et l'analyse des caractéristiques de surface de divers matériaux. Avec une tension d'accélération allant jusqu'à 200kV, la microscopie offre une imagerie haute résolution et peut produire des images jusqu'à 5nm de résolution. HITACHI S9380 II est un type de SEM à pression variable, y compris les fonctions de haute dépression, de pression variable (LVP) et de basse dépression (LV). L'opération SEM à pression variable permet d'améliorer l'imagerie des échantillons non conducteurs grâce à son contrôle de décharge unique dans les modes LV et LVP et améliore également les capacités d'analyse pour la caractérisation de la surface des échantillons. S-9380-II dispose d'une caméra de télévision dédiée, d'une loupe Virtual STEM, de fonctions Multi-spot et multi-colonnes. La caméra de télévision offre un choix de trois caméras pour répondre aux besoins de l'utilisateur. Le fonctionnement simultané d'un maximum de deux objectifs permet une acquisition rapide de l'image. L'objectif de grossissement virtuel STEM avec de multiples grossissements fournit une large gamme d'observations d'échantillons à différents grossissements. Les taches multiples dans n'importe quel cadre de grossissement sont disponibles, ce qui aide à rendre l'analyse tomographique ou le relevé de grande surface disponible. En outre, le système multi-colonnes, une combinaison de multiples plages de balayage, est disponible pour acquérir des images dans plusieurs orientations angulaires pour une observation efficace. S9380 II comprend une variété de capacités analytiques telles que l'analyse des rayons X dispersifs en énergie (EDX) et l'analyse de cathodoluminescence. EDX, utilisé pour l'analyse de la composition élémentaire, peut être utilisé à la fois dans les modes à vide élevé et faible. Il est également équipé du PASENDI - un système d'imagerie chimique permettant la distribution 2D d'éléments spécifiques dans l'échantillon. L'analyse cathodoluminescence (CL) aide à analyser l'émission optique de l'échantillon lorsqu'il est excité par un faisceau d'électrons à haute énergie. Outre EDS et CL, HITACHI S 9380 II peut également subir une diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD) et une analyse par faisceau simple et double. Dans sa configuration standard, S-9380 II embarque avec l'EDAX SIMS 180C, un appareil d'imagerie électronique avancé, et un choix de détecteurs d'électrons secondaires et rétrodiffuseurs. Il est livré avec une large gamme d'accessoires optimisés pour faciliter le montage et l'analyse des échantillons. En bref, HITACHI S-9380-II fournit un microscope électronique à balayage haute performance, fiable et rentable idéal pour une variété d'applications dans la recherche sur les matériaux, la nanotechnologie, l'optoélectronique et les sciences de la vie.