Occasion HITACHI S-9380 II #9241982 à vendre en France

HITACHI S-9380 II est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir aux utilisateurs des capacités d'imagerie avancées qui leur permettent de visualiser et d'analyser plus en détail des structures d'échantillons complexes. Le système est équipé d'une source d'émission sur le terrain (FES) haute performance et de grande surface pour assurer l'imagerie la plus haute résolution tout en offrant une large gamme de techniques d'imagerie et d'analyse pour un large éventail d'applications. Il est capable d'atteindre des résolutions jusqu'à des échelles sous-nanométriques, supérieures à 2 nm et possède un traitement d'image et une acquisition de données à grande vitesse. Il est bien adapté à de nombreuses applications d'imagerie telles que l'analyse avancée des défaillances des semi-conducteurs, la métallographie, la surveillance des procédés, l'inspection des contaminants et l'analyse des défaillances. Le SEM est équipé d'une gamme complète d'options de contrôle automatisé des échantillons et des étapes. Cela comprend un étage XY de haute précision avec une faible dérive, des caractéristiques de précision et de répétabilité améliorées, et une conception innovante de chambre de prélèvement. L'automatisation bi-mode de la caméra d'échantillonnage permet la mise au point rapide et la navigation à n'importe quelle position de la chambre, en plus de l'échantillonnage angulaire contrôlé. Le logiciel de contrôle dispose de commandes intuitives et d'outils de traitement d'image qui le rendent facile à utiliser et à configurer. Le SEM est également équipé de systèmes de détection avancés tels que la spectroscopie dispersive de l'énergie des rayons X (EDS) et l'imagerie filtrée de l'énergie (EFI) pour fournir des images nettement détaillées avec un faible bruit et des capacités améliorées de détection de la contamination. Le porte-spécimen est conçu pour accueillir divers échantillons, y compris des échantillons liquides et sous vide, avec plusieurs supports et options disponibles. Il comprend un canon à faisceau d'électrons qui offre un réglage de l'angle du faisceau incident, pour une flexibilité maximale dans la détection des zones d'intérêt. La plate-forme de spécimen peut également être configurée pour des mesures d'inclinaison et de rotation. En termes d'imagerie, HITACHI S9380 II est équipé d'une caméra haute résolution à faible bruit qui capte les détails jusqu'à 0,2 nm. Les images peuvent être sauvegardées rapidement grâce à un transfert de données plus rapide, ce qui permet un partage plus rapide des données entre les utilisateurs. La caméra offre également un large choix de modes vidéo qui permettent une analyse robuste des motifs ou de la qualité d'image. En outre, S-9380-II système est souvent utilisé pour l'analyse élémentaire à haute sensibilité avec des caractéristiques analytiques incluant l'analyse automatique du spectre, l'identification des particules et les chevauchements spectraux. Dans l'ensemble, S-9380 II est un puissant microscope électronique à balayage qui offre des capacités d'imagerie et d'analyse avancées. Il permet aux utilisateurs de visualiser et d'analyser des structures complexes jusqu'à des échelles sous-nanométriques. Le contrôle des échantillons et des étages de haute précision, le logiciel de contrôle intuitif et les systèmes de détection avancés offrent aux utilisateurs la flexibilité et la précision nécessaires pour une gamme d'applications.