Occasion HITACHI S-9380 II #9251047 à vendre en France

HITACHI S-9380 II est un microscope électronique à balayage (SEM) avec un canon à électrons composé de filaments et de micro-colonnes reliés électriquement en parallèle. Ce SEM est équipé d'un canon à émission de champ (FEG) qui donne une source d'électrons meilleure et plus fiable. La FEG dispose d'une petite zone éclairante, d'une courte longueur de colonne et d'une divergence de faisceau d'électrons extrêmement faible pour une excellente résolution et un débit élevé. HITACHI S9380 II est capable de mesurer des échantillons jusqu'à 20 mm de diamètre et avec sa grande chambre d'échantillonnage, permet un chargement et un déchargement faciles dans différentes positions. Travaillant à un grossissement maximum de 3,000,000X, des échantillons de n'importe quelle orientation peuvent être scannés. Il a un grand port et un petit port pour SE/ESB et faisceau ionique. En outre, S-9380-II dispose d'un étage d'échantillons à faible vibration et d'un équipement de contrôle numérique à haute stabilité pour un contrôle précis et répétable des mouvements de l'étage d'échantillons. S-9380 II nécessite une maintenance plus faible des échantillons pendant le fonctionnement avec son nouveau logiciel de commande pour la fonction de réglage automatique de la forme d'onde roda afin de maintenir un alignement correct du faisceau d'électrons. En plus de ses fonctions automatiques, le canon à émission de champ à couche de carbone en forme de diamant (COPI) permet une résolution exceptionnellement élevée à des tensions d'accélération variées. Les capacités de grossissement et l'optique électronique avancée de HITACHI S 9380 II permettent aux chercheurs de mesurer un large éventail d'échantillons en un seul système. Non seulement le S 9380 II est capable de détecter des détails au niveau du nanomètre, mais il fournit également la capacité de mesurer la surface avec un haut degré de précision. Il dispose d'excellentes capacités de cartographie de surface grâce à un alignement de haute précision du faisceau d'électrons et se concentre sur la surface pour créer des cartes d'image à résolution nanométrique. S9380 II dispose également d'une petite unité de mouvement X/Y qui permet de scanner des échantillons non uniformes tout en conservant une haute résolution. Cela signifie qu'il s'agit d'un outil incroyablement utile pour des applications telles que l'analyse des échecs et l'examen micro-structurel. Enfin, cette machine est compatible avec l'irradiation sélective des électrons de zone, ne provoquant aucune dégradation de la zone environnante de l'échantillon, afin d'appliquer une modification à l'échantillon. En conclusion, HITACHI S-9380-II est un microscope électronique à balayage très avancé doté d'un canon à électrons FEG, capable d'effectuer des mesures détaillées de nanomètre sur une grande variété d'échantillons. Ses techniques avancées d'imagerie et d'optique électronique permettent aux chercheurs de diagnostiquer avec précision les défauts et les caractéristiques structurelles de leurs échantillons en plus de mesurer et de cartographier la surface de leurs échantillons. L'outil X/Y et le matériel d'irradiation sélective des électrons permettent un examen et une modification détaillés des échantillons, ce qui élargit encore la capacité de HITACHI S-9380 II.